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徐立生

作品数：6 被引量：0H指数：0
供职机构：信息产业部更多>>
相关领域：电子电信航空宇航科学技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇国内会议论文

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 3篇半导体
  • 2篇气密
  • 2篇气密性
  • 2篇温度循环
  • 2篇分立器件
  • 2篇半导体分立器...
  • 1篇失效模式
  • 1篇温度
  • 1篇温度控制
  • 1篇晶体管
  • 1篇可靠性
  • 1篇加速寿命试验
  • 1篇功率晶体管
  • 1篇功率器件
  • 1篇半导体器件
  • 1篇GAAS器件
  • 1篇GAAS

机构

  • 6篇信息产业部

作者

  • 6篇徐立生
  • 4篇杜银波
  • 2篇李亚红
  • 2篇马素芝
  • 2篇高兆丰
  • 2篇李树杰
  • 2篇王长河
  • 1篇黄杰
  • 1篇梁法国

传媒

  • 2篇第三届电子产...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇第三届电子产...

年份

  • 1篇2002
  • 4篇2001
  • 1篇2000
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
功率器件寿命试验中的温度控制
该文主要介绍了开展功率晶体管加速寿命试验过程中，为保证试验数据的准确性，是如何控制功率晶体管试验温度的。
杜银波徐立生
关键词：功率晶体管加速寿命试验
文献传递
贮存10年的星用GaAs器件可靠性再评价
本文报导了对贮存10年的GaAs器件可靠性快速评价的结果,并探讨了在特殊情况下,对超贮存期器件使用的可能性.
黄杰杜银波徐立生梁法国
关键词：GAAS器件失效模式
文献传递
俄罗斯热电老化试验台现状
本文主要介绍了俄罗斯热电老化试验台的功能和特点以及使用的体会,此类试验设备可以连续无故障工作1000小时以上.
杜银波徐立生马素芝
关键词：半导体器件可靠性
文献传递
温度循环对半导体分立器件气密性影响初探
本文阐述了影响器件气密性的各种因素和质量一致性检验中所存在的问题,给出了摸底试验条件制定思路,对实验结果进行了分析,最后总结了在检漏工作中的几点建议.
李树杰李亚红高兆丰王长河徐立生
关键词：温度循环气密性半导体分立器件
文献传递
俄罗斯热电老化试验台现状
本文主要介绍俄罗斯产老化试验台的功能和特点以及使用的体会.
杜银波徐立生马素芝
文献传递
温度循环对半导体分立器件气密性影响初探
本文阐述了影响器件气密性的各种因素和质量一致性检验中所存在的问题,给出了摸底试验条件制定思路,对实验结果进行了分析,最后总结了在检漏工作中的几点建议.
李树杰李亚红高兆丰王长河徐立生
关键词：温度循环气密性
文献传递
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