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杜银波

作品数：6 被引量：1H指数：1
供职机构：信息产业部更多>>
相关领域：电子电信航空宇航科学技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 4篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 2篇加速寿命试验
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体器件
  • 1篇失效模式
  • 1篇热阻
  • 1篇微波半导体器...
  • 1篇温度
  • 1篇温度控制
  • 1篇晶体管
  • 1篇可靠性
  • 1篇激活能
  • 1篇功率晶体管
  • 1篇功率器件
  • 1篇GAAS器件
  • 1篇GAAS

机构

  • 4篇信息产业部
  • 2篇电子工业部

作者

  • 6篇杜银波
  • 4篇徐立生
  • 2篇马素芝
  • 1篇黄杰
  • 1篇徐立生
  • 1篇梁法国
  • 1篇徐立生

传媒

  • 1篇半导体情报
  • 1篇第三届电子产...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇第八届全国可...
  • 1篇第三届电子产...

年份

  • 1篇2002
  • 2篇2001
  • 1篇2000
  • 1篇1999
  • 1篇1998
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
功率器件寿命试验中的温度控制
该文主要介绍了开展功率晶体管加速寿命试验过程中，为保证试验数据的准确性，是如何控制功率晶体管试验温度的。
杜银波徐立生
关键词：功率晶体管加速寿命试验
文献传递
俄罗斯热电老化试验台现状
本文主要介绍俄罗斯产老化试验台的功能和特点以及使用的体会.
杜银波徐立生马素芝
文献传递
贮存10年的星用GaAs器件可靠性再评价
本文报导了对贮存10年的GaAs器件可靠性快速评价的结果,并探讨了在特殊情况下,对超贮存期器件使用的可能性.
黄杰杜银波徐立生梁法国
关键词：GAAS器件失效模式
文献传递
俄罗斯热电老化试验台现状
本文主要介绍了俄罗斯热电老化试验台的功能和特点以及使用的体会,此类试验设备可以连续无故障工作1000小时以上.
杜银波徐立生马素芝
关键词：半导体器件可靠性
文献传递
高温度应力下功率管可靠性评价及失效分析
度恒定应力加速寿命试验，广泛应用于对器件的可靠性快速评价，器件失效机理的分析，本文正是利用此方法对某重点工程末级功率管WDO331进行了快速评价，及其失效的原因分析。
徐立生杜银波
关键词：激活能热阻
P波段功率管的射频脉冲加速寿命试验被引量：1
1998年
概述了Ｐ波段功率管在射频脉冲条件下进行加速寿命试验的方法，对Ｐ波段功率管可靠性进行了初步预测，并分析了器件失效的原因。
徐立生杜银波苏文华
关键词：加速寿命试验微波半导体器件
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