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张仿清

作品数:56 被引量:50H指数:4
供职机构:北京工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学电子电信一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 49篇期刊文章
  • 4篇会议论文
  • 2篇科技成果
  • 1篇专利

领域

  • 28篇理学
  • 18篇电子电信
  • 4篇一般工业技术
  • 2篇电气工程
  • 1篇化学工程
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇文化科学

主题

  • 16篇H
  • 11篇非晶硅
  • 11篇X
  • 9篇非晶
  • 8篇A-SI
  • 7篇半导体
  • 6篇电子束蒸发
  • 6篇晶格
  • 6篇溅射
  • 6篇超晶格
  • 5篇金刚石薄膜
  • 5篇A-SI:H
  • 4篇电学
  • 4篇电子自旋共振
  • 4篇自旋
  • 4篇晶态
  • 4篇光吸收
  • 4篇光学
  • 4篇硅薄膜
  • 4篇反应溅射

机构

  • 54篇兰州大学
  • 3篇北京市科学技...
  • 2篇中国科学院兰...
  • 1篇吉林大学
  • 1篇北京工业大学
  • 1篇西北师范大学
  • 1篇天水师范高等...
  • 1篇中国科学院力...
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 56篇张仿清
  • 44篇陈光华
  • 10篇甘润今
  • 10篇王印月
  • 6篇许怀哲
  • 6篇宋志忠
  • 4篇崔敬忠
  • 4篇郭永平
  • 4篇杨映虎
  • 3篇于工
  • 3篇蒋翔六
  • 3篇刘式墉
  • 3篇杨树人
  • 3篇刘宝林
  • 2篇黄良甫
  • 2篇孙国胜
  • 2篇张文军
  • 2篇刘国汉
  • 2篇谢燮
  • 2篇达道安

传媒

  • 17篇兰州大学学报...
  • 11篇物理学报
  • 5篇无机材料学报
  • 4篇科学通报
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  • 2篇甘肃科学(甘...
  • 1篇电子学报
  • 1篇物理
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  • 1篇中国稀土学报
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  • 1篇中国空间科学...
  • 1篇实验技术与管...
  • 1篇中国物理学会...
  • 1篇第四届全国发...

年份

  • 2篇2005
  • 2篇1996
  • 5篇1995
  • 4篇1994
  • 8篇1993
  • 11篇1992
  • 4篇1991
  • 11篇1990
  • 8篇1989
  • 1篇1986
56 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
化学汽相淀积(CVD)法合成金刚石薄膜的ESR研究
1前言和自然金刚石一样,用化学汽相淀积法合成的金刚石簿膜有许多优越的物理性质,如宽带隙,高硬度、高热导、高电子和空穴迁移率等;特别是掺杂后可成为高性能半导体材料。但合成过程中膜内产生的大量缺陷限制了它作为半导体材料的应用...
张文军吴全忠张仿清陈光华
文献传递
非晶硅太阳电池稳定性研究
1996年
报导对非晶硅太阳电池长期跟踪测量的结果,并对提高太阳电池稳定性进行了讨论.
王印月杨映虎姜永波张仿清陈光华王思礼
关键词:非晶硅稳定性太阳能电池
非晶态硅基合金膜电子自旋共振(ESR)波形的不对称性
1990年
本文首次系统地研究了非晶硅基合金膜的 ESR 共振波形,其中包括掺杂、光照、退火及测试温度等因素对 ESR 波形的影响。初步讨论了 ESR 波形不对称性的起因以及影响 ESR 波形的各种因素。实验结果表明:自旋中心所处的不同化学环境是导致 ESR 波形变化的主要原因。
陈光华孙国胜张仿清
关键词:电子自旋共振
立方氮化硼薄膜的织构生长被引量:4
1995年
立方氮化硼(C-BN)除了具有一系列类似于金刚石的优异的物理化学性质,如高硬度(仅次于金刚石),宽带隙(E_g≈6.6eV),高的电阻率和高的热导率外,还具有一些优于金刚石的性质,如比金刚石高的热稳定性和化学稳定性,容易实现p型和n型掺杂(而金刚石的n型掺杂国际上至今尚未实现),与Si,GaAs更接近的热膨胀系数.因此,C-BN在力学、光学、热学、电子学等方面有着极其广泛的应用前景.其中最为诱人的前景是在电子学方面,首先作为一种易于p型,n型掺杂的宽带隙半导体材料,它可以应用于高温、高频、大功率。
陈光华郭永平张仿清宋志忠
关键词:立方氮化硼氮化硼
电子束蒸发a-Si_(1-x)Gd_x薄膜的光吸收
1992年
研究了电子束蒸发的掺稀土非晶硅基薄膜材料a—Si_(1-x)Gd_x的光吸收特性。这类材料的组分变化对近红外长波吸收特性的影响灵敏,在0.1at%
甘润今张仿清张津燕刘国汉陈光华
关键词:光吸收非晶硅薄膜光学带隙
a-Si∶H/a-Ge∶H超晶格的界面特性研究
1992年
本文用红外(IR)和拉曼(Raman)谱研究了反应溅射 a-Si∶H/a-Ge∶H 超晶格的界面特性.定量分析发现,界面处没有因应力释放引起的 H 富集,不存在由超晶格结构引起的界面结构无序,界面处存在着~(5±2)(?)的 Si、Ge 组分混合层.我们对结果进行了初步分析.
王印月许怀哲张仿清
关键词:超晶格拉曼谱半导体
氢化非晶锗碳薄膜中的自旋缺陷态
1992年
本文应用原位电子自旋共振(ESR)技术研究了射频反应溅射法制备的氢化非晶锗碳(a-Ge_(1-x)C_x:H)薄膜中自旋缺陷态的种类、密度、温度依赖关系和热力学动态行为。在分解ESR谱的过程中,发现了它的不对称成分,并对此进行了定量分析和微观机理的探讨。
陈光华于工张仿清吴天喜
关键词:氢化
反应溅射α-GeN#-[x]:H薄膜的喇曼和电子自旋共振谱
陈光华张仿清贾炜
关键词:溅射电子自旋共振
a-Si:H/a-SiC_x:H超晶格的界面特性
1994年
报道等离子体化学汽相沉积法制备的a-Si:H/a-SiC:H超晶格的蓝移现象,用小角度X射线衍射确定超晶格的界面陡度。通过红外测量和常数光电流测量发现,超晶格界面附近存在较高浓度的H和较多的Si-C键,界面H的热稳定性较差,界面缺陷态密度为1.2×10 ̄(11)cm ̄(-2)。
陈光华郭永平姚江宏宋志忠张仿清
关键词:氢化非晶硅超晶格
溅射a-GeN_x和a-GeN_x:H薄膜的制备及光电特性的研究被引量:2
1989年
本文报道了应用射频反应溅射法制备a-GeN_x和a-GeN_x:H薄膜的工艺条件及其基本的光电特性,并报道了它的IR和Raman特性,讨论了掺氮对a-GeN_x:H膜带尾态ΔE,IR谱及Raman谱的影响。
陈光华张仿清崔敬忠
关键词:非晶半导体光电特性
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