2024年11月23日
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刘世元
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338
被引量:273
H指数:9
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华中科技大学
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陈修国
华中科技大学机械科学与工程学院...
谷洪刚
华中科技大学
江浩
华中科技大学机械科学与工程学院...
张传维
武汉颐光科技有限公司
史铁林
武汉光电国家实验室筹
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2005
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晶圆检测配置参数的优化方法及装置
本申请属于半导体制造技术领域,具体公开了一种晶圆检测配置参数的优化方法及装置,方法包括:将照明光瞳和收集光瞳的图形分别栅格化,得到第一二维分布矩阵和第二二维分布矩阵;基于偏振照明的方式和第一二维分布矩阵,确定照明光瞳的光...
刘世元
严明
刘佳敏
江浩
郭少鹏
朱金龙
谷洪刚
一种基于二维硒化亚锡的可调波长偏振器及其设计方法
本发明提供了一种基于二维硒化亚锡的可调波长偏振器及其设计方法,属于新型偏振光学器件领域,偏振器包括带有二氧化硅的硅基底和二维SnSe层;二维SnSe层用于当入射光以不同角度斜射至其表面时,将p光反射率最小值对应的不同波长...
谷洪刚
郭正峰
刘世元
一种OLED器件多个目标的协同优化方法
本发明属于OLED器件相关技术领域,其公开了一种OLED器件多个目标协同优化方法,该方法首先分别获取多个目标与OLED器件膜层的厚度矩阵的关系式;然后分别获取多个关系式与其对应的预设目标期望值的偏差,并建立多个偏差的联合...
谷洪刚
刘世元
陈林雅
柯贤华
赵雪楠
江浩
文献传递
层析穆勒矩阵散射仪研制及纳米结构测量应用
<正>椭偏测量术是一种利用光的偏振特性获取样品的光学测量方法,伴随着其应用领域的延伸,仅能收集平面反射光或零级衍射光的传统椭偏测量设备无法满足更广泛的应用测量需求。为此,本文以传统光谱椭偏仪为基础,结合层析成像技术,提出...
陈超
陈修国
刘世元
文献传递
一种套刻标记形貌和测量条件优化方法
本发明公开了一种套刻标记形貌和测量条件优化方法,属于光刻领域。首先,根据光刻工艺确定套刻标记形貌结构和材料光学常数。其次,通过解析或数值的建模方法可计算套刻光学表征曲线。然后,根据泰勒公式得到套刻测量重复性精度和准确度的...
石雅婷
李旷逸
陈修国
刘世元
文献传递
一种基于远场衍射差分光强不对称的光刻缺陷检测方法
本申请属于光学检测技术领域,具体公开了一种基于远场衍射差分光强不对称的光刻缺陷检测方法,包括以下步骤:获取待测光刻样品的近场电场分布并输入至光场传播模型,获得对应含缺陷的远场衍射光强分布函数;将含缺陷的远场衍射光强与不含...
谷洪刚
周玉
刘世元
一种噪声实时分离的叠层衍射计算成像方法和装置
本发明公开一种噪声实时分离的叠层衍射计算成像方法和装置,属于相干衍射成像领域。本发明首次提出用于承载噪声能量的虚拟探针模型,将耦合的噪声误差通过重构算法迭代分离到噪声探针内部,极大提升重构算法的鲁棒性及待测样品、照明波前...
刘世元
刘力
谷洪刚
李文杰
光谱椭偏数据分析中光学常数模型的智能选择
吴天赐
陈修国
刘世元
一种高压光谱椭偏测量装置及测量方法
本发明属于光学测量相关技术领域,并公开了一种高压光谱椭偏测量装置及测量方法。该装置包括入射起偏光路、反射检偏光路和装夹单元,入射起偏光路中设置有第一微透镜,用于将直径为毫米级的平行光束汇聚成直径为微米级的光斑并照射在待测...
江浩
刘佳敏
王勐
刘世元
王一帆
谷洪刚
文献传递
基于主分量分析的信号白化解相关处理
被引量:8
2005年
介绍了主分量分析及其计算方法,论证了采用主分量分析方法对混合信号进行白化解相关处理的理论基础,对基于主分量分析方法的解相关处理进行了仿真。结果表明,对信号进行解相关处理可以大幅度降低信号之间的互相关程度。
王峻峰
史铁林
刘世元
何岭松
关键词:
解相关
白化
主分量
盲源分离
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