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关兴国

作品数:7 被引量:10H指数:2
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇会议论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 6篇电子电信

主题

  • 2篇砷化镓
  • 2篇外延层
  • 2篇红外
  • 2篇半导体
  • 2篇MOCVD法
  • 2篇MOCVD生...
  • 1篇氮化
  • 1篇氮化物
  • 1篇氮化物半导体
  • 1篇导体
  • 1篇低压
  • 1篇淀积
  • 1篇对激发
  • 1篇砷化铟
  • 1篇深能级
  • 1篇碳掺杂
  • 1篇能级
  • 1篇汽相沉积
  • 1篇汽相外延
  • 1篇汽相外延生长

机构

  • 3篇河北半导体研...
  • 3篇中国电子科技...
  • 2篇中国民用航空...
  • 1篇中国科学院长...
  • 1篇机电部

作者

  • 7篇关兴国
  • 5篇章其麟
  • 2篇赵家龙
  • 2篇梁家昌
  • 2篇李景
  • 2篇李景
  • 2篇高瑛
  • 1篇刘英斌
  • 1篇袁风波
  • 1篇任永一
  • 1篇刘燕飞
  • 1篇李彦平
  • 1篇任永一
  • 1篇李景
  • 1篇刘学彦

传媒

  • 2篇半导体情报
  • 1篇Journa...
  • 1篇光学学报
  • 1篇稀有金属
  • 1篇第四届全国固...

年份

  • 1篇2005
  • 1篇1996
  • 1篇1994
  • 2篇1993
  • 2篇1992
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
LP-MOCVD生长InGaAs/GaAs量子阱
李景关兴国
关键词:低压化学汽相沉积砷化镓砷化铟
MOCVD生长GaAlAs/GaAs HBT材料
章其麟关兴国李景刘英斌任永一袁风波刘燕飞孙进民等
1.成果内容简介:该成果采用MOCVD生长HBT材料,解决了GaAs体材料的纯度,找到了克服GaAlAs氧沾污的方法,尤其是采用最新的P-GaAs掺C技术,满足了异质结与P-N结的陡峭分布,做到了基区很薄(80纳米)且P...
关键词:
关键词:化学汽相淀积汽相外延生长GAALAS/GAASHBT材料
MOCVD 生长 GaAlAs/GaAs HBT 材料的研究
1993年
研究了 MOCVD 法 GaAlAs/GaAs 多层异质结材料的生长工艺。通过对材料的测试分析与器件研制,得出了 GaAlAs 发射极的 PL 性质和多层材料的纵向浓度分布是 HBT 材料的质量表征的结论。采用提高系统密封性和载气纯度、生长阻挡层等手段改善了材料质量,达到了良好的器件特性。
关兴国李景章其麟任永一
关键词:复合材料半导体材料MOCVD法
GaAs衬底上生长的Ga_(0.5)In_(0.5)P外延层中的近红外光致发光对激发强度的依赖关系被引量:1
1992年
本文首次报道了利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)方法在GaAs衬底上生长的有序的Ga_(0.5)In_(0.5)P外延层的近红外光致发光的研究,并观测到深能级产生的三个发光峰,其峰值能量分别为 1.17,0.99和 0.85eV.根据它们的近红外发光光谱随着激发强度的变化关系,我们证实这些发光都是由于施主-受主对复合产生的发光.
赵家龙高瑛刘学彦苏锡安梁家昌关兴国章其麟
关键词:衬底红外光谱
MOCVD法生长Ca_(0.5)In_(0.5)P外延层的近红外光致发光与温度的依赖关系被引量:2
1992年
测量了用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法在GaAs衬底上生长的Ga_(0.5)In_(0.5)P外延层的近红外光致发光光谱,观察到三个与深能级有关的发光带,其峰值能量分别为1.17,0.99和0.85eV.研究了这些发光带的发光强度,峰值位置和半宽度随温度的变化关系,并初步分析其来源.
高瑛赵家龙刘学彦苏锡安梁家昌李景关兴国章其麟
关键词:近红外光致发光深能级
Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体的进展被引量:7
1996年
90年代初Ⅲ-Ⅴ族氮化物材料的实用化似乎还很遥远,但是自从蓝光GaN/GaInN LED 研制成功之后这个领域发生了巨变。目前,GaN 成为化合物半导体领域中最热门的课题。在下个十年中,基于 GaN 材料的激光器、HV 探测器和大功率高温半导体器件将成为实用产品。
李彦平关兴国
关键词:氮化物半导体
MoCVD生长重掺碳GaAs
1993年
以四氧化碳(CCl_4)为掺杂剂进行了MOCVD生长掺碳GaAs的研究。p-GaAs外延层的最高空穴浓度可达1.8×10^(20)/cm^3,相应的迁移率为37cm^2/V.s。在重掺杂p-GaAs外延层中出现明显的能带收缩和晶格失配。
关兴国章其麟李景任永一刘燕飞
关键词:砷化镓碳掺杂
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