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乐德芬

作品数:6 被引量:37H指数:4
供职机构:中国科学技术大学物理学院物理系更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信一般工业技术机械工程更多>>

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 3篇理学
  • 2篇电子电信
  • 1篇机械工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇金刚石
  • 3篇刚石
  • 2篇金刚石薄膜
  • 1篇电路
  • 1篇多晶铜
  • 1篇应力
  • 1篇散射
  • 1篇扫描近场光学...
  • 1篇射线
  • 1篇内应力
  • 1篇气相沉积
  • 1篇微波功率
  • 1篇显微镜
  • 1篇近场
  • 1篇近场光学
  • 1篇近场光学显微...
  • 1篇晶片
  • 1篇抗腐蚀
  • 1篇抗腐蚀性
  • 1篇化学气相

机构

  • 6篇中国科学技术...

作者

  • 6篇乐德芬
  • 3篇胡一贯
  • 3篇张东平
  • 1篇易波
  • 1篇陈金松
  • 1篇叶祉渊
  • 1篇张国平
  • 1篇吴云霞
  • 1篇崔景彪
  • 1篇廖源
  • 1篇邵庆益
  • 1篇尚乃贵
  • 1篇谢建平
  • 1篇陈晓刚
  • 1篇方容川
  • 1篇韩祀瑾
  • 1篇陈宁伟
  • 1篇明海

传媒

  • 1篇物理学报
  • 1篇中国科学技术...
  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇光电工程
  • 1篇应用光学
  • 1篇微细加工技术

年份

  • 1篇2002
  • 2篇2001
  • 1篇1999
  • 1篇1998
  • 1篇1992
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
CVD金刚石薄膜的抗腐蚀性研究被引量:2
2001年
用微波等离子体化学气相沉积法在硅衬底上生长了金刚石薄膜 ;通过扫描电子显微镜和喇曼散射光谱对其性质进行了表征。将生成的样品分别放在氢氧化钾 ,四乙基氢氧化铵以及氢氟酸、硝酸和冰醋酸混合液中进行腐蚀研究 ,结果发现在氢氧化钾腐蚀液中 ,金刚石薄膜出现片状脱落现象 ,而在后两种腐蚀液中却表现出良好的抗腐蚀性。
张东平乐德芬胡一贯
关键词:化学气相沉积金刚石薄膜
同步辐射X射线光刻技术被引量:3
2001年
同步辐射 X射线光刻 (SRXL)是本世纪超大规模集成电路 (VLSI)发展中最有希望的深亚微米图形加工技术 ,本文综述了 SRXL技术研究的现状及存在的问题 。
张东平乐德芬胡一贯
关键词:X射线光刻技术集成电路
扫描近场光学显微镜光纤探针的制作与分析被引量:8
1999年
描述了制作扫描近场光学显微镜光纤探针的两种简便有效的方法——带保护层的化学腐蚀法和光纤熔接机拉锥法,从实验中比较、分析了两种制作方法的优缺点,实验表明这两种方法均能制作出针尖直径为50nm左右的光纤探针。
张国平明海陈晓刚吴云霞乐德芬谢建平王克逸黄文浩
关键词:显微镜光纤探针近场光学
用激光干涉法分析薄膜应力被引量:7
1992年
本文叙述了激光干涉弯曲晶片薄膜应力测定法的原理。依据这一原理建立了薄膜应力分析系统,并实际分析了作为X射线掩模基膜的Si_3N_4膜中的应力。用Stoney公式计算出Si_3N_4膜的内应力为6.4×10~8dyn/cm^2。
胡一贯乐德芬陈宁伟
关键词:内应力激光干涉
MPCVD金刚石的Raman光谱分析被引量:9
2002年
用微波等离子体化学气相淀积法 (MPCVD)在Si基片上生长了金刚石薄膜 ,通过对其进行Raman光谱分析 ,一次表征了金刚石的结构、纯度及应力状况等材料性能 ,同时并研究了生长过程中微波功率与金刚石性质的关系。研究表明 ,微波等离子体化学气相淀积法生长的金刚石薄膜 ,除了金刚石成分的生长外 ,还会有部分非金刚石成分的生长 ,金刚石的纯度与微波功率的关系不明显 ,另外此种方法生长的金刚石薄膜主要表现为张应力。
张东平乐德芬胡一贯
关键词:MPCVD金刚石RAMAN散射应力微波功率
金刚石薄膜在多晶铜和磷脱氧铜基片上的生长被引量:9
1998年
分别采用99.99%的多晶铜片和99.95%的磷脱氧铜片作为沉积金刚石薄膜的基片,通过热丝化学汽相沉积法在两种基片上都获得了大面积、自支撑的多晶金刚石膜.使用高分辨率光学显微镜、扫描电子显微镜、Raman光谱和X射线衍射比较分析了两种铜基片上的金刚石膜.脱氧铜上的金刚石膜质量并不亚于多晶铜上的金刚石膜,而且它的成核密度、生长速率以及应力都高于多晶铜上金刚石膜的同类参数.
韩祀瑾陈金松方容川尚乃贵邵庆益乐德芬廖源叶祉渊易波崔景彪
关键词:多晶铜金刚石薄膜生长
共1页<1>
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