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阮建新

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:电子科技大学光电信息学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室更多>>
发文基金:国家科技重大专项更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇脉冲放电
  • 2篇MCT
  • 1篇电流
  • 1篇电流上升率
  • 1篇晶体管
  • 1篇绝缘栅
  • 1篇绝缘栅晶体管
  • 1篇击穿电压
  • 1篇DI/DT
  • 1篇IGBT

机构

  • 3篇电子科技大学
  • 1篇东莞电子科技...
  • 1篇东莞电子科技...

作者

  • 3篇张波
  • 3篇孙瑞泽
  • 3篇阮建新
  • 3篇陈万军

传媒

  • 3篇电子与封装

年份

  • 3篇2014
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种高di/dt栅控晶闸管的三重扩散工艺优化
2014年
传统栅控晶闸管(MCT)的制造工艺中存在阱区浓度调整与器件性能最大化之间的矛盾,提出了一种具有高电流上升率的制造工艺的优化,实现了具有更高正向电流能力与低阈值电压的MCT器件。结果表明该工艺制造的MCT在脉冲放电应用中电流上升率(di/dt)较传统工艺所制造的器件提高15%,最大工作温度降低33%,热逸散速度提高36%。
孙瑞泽陈万军彭朝飞阮建新张波
关键词:电流上升率脉冲放电
基于VLD技术的MCT器件仿真分析
2014年
针对在脉冲功率领域有一定应用的栅控晶闸管(MCT)器件,提出了一种基于VLD(横向变掺杂)技术的MCT(VMCT)器件新工艺并通过仿真比较出新工艺的优势。VLD技术是指通过调整掩模版窗口的大小调节杂质掺杂浓度,进而优化MCT中NPN晶体管的电流放大系数a,通过仿真确定了新工艺的杂质注入剂量。仿真结果表明采用新工艺的VMCT器件比采用常规工艺MCT(CMCT)电流能力更强,是CMCT的2倍;和CMCT相比,VMCT器件的耐压和关断电压都保持不变,但是VMCT在工艺流程中比MCT节省一张掩模版。
阮建新陈万军孙瑞泽彭朝飞张波
关键词:MCT击穿电压
MCT与Clustered IGBT在大功率应用中的比较研究被引量:1
2014年
针对两种应用于大功率领域的半导体器件——栅控晶闸管(MCT)和组合式绝缘栅晶体管(CIGBT),采用数值仿真软件进行了比较研究。静态仿真结果表明MCT具有更低的正向压降,只有CIGBT的50%左右,而CIGBT得益于其电流饱和特性,具有更大的短路安全工作区。开关仿真结果表明CIGBT具有比MCT更短的关断时间和更小的关断能量,更适合应用于高频领域。同时研究了MCT和CIGBT在脉冲放电应用中的特性,结果表明MCT具有更大的脉冲峰值电流和更快的电流上升率,并首次论证了脉冲放电过程中器件物理机制的区别。
彭朝飞陈万军孙瑞泽阮建新张波
关键词:脉冲放电
共1页<1>
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