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王坦

作品数:39 被引量:11H指数:2
供职机构:中国航天科工集团公司更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术金属学及工艺航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 33篇专利
  • 6篇期刊文章

领域

  • 10篇电子电信
  • 6篇自动化与计算...
  • 2篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程
  • 1篇电气工程
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇理学

主题

  • 15篇塑封
  • 12篇塑封器件
  • 10篇电路
  • 8篇芯片
  • 8篇集成电路
  • 6篇元器件
  • 6篇图像
  • 4篇引线
  • 4篇内引线
  • 4篇混合集成电路
  • 4篇激光
  • 4篇检测图像
  • 4篇半导体
  • 4篇测图
  • 4篇超声
  • 3篇太赫兹
  • 3篇准确率
  • 3篇无损检测
  • 3篇物理分析
  • 3篇金相

机构

  • 39篇中国航天科工...
  • 1篇天津大学
  • 1篇中国航天

作者

  • 39篇王坦
  • 6篇贺峤
  • 5篇冯慧
  • 5篇赵慧婷
  • 4篇李宏民
  • 4篇石雪梅
  • 4篇罗晶
  • 3篇张虹
  • 2篇刘海涛
  • 2篇赵鹏
  • 2篇孙永玲
  • 2篇辛燕
  • 2篇刘晓昱
  • 2篇陈波
  • 1篇刘越
  • 1篇申永青
  • 1篇李凯
  • 1篇徐德刚
  • 1篇吕兵
  • 1篇周霞

传媒

  • 3篇舰船电子工程
  • 1篇传感器世界
  • 1篇电子测试
  • 1篇红外与毫米波...

年份

  • 5篇2024
  • 5篇2023
  • 7篇2022
  • 3篇2021
  • 4篇2020
  • 4篇2019
  • 2篇2018
  • 3篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 3篇2012
39 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
硬件木马的检测方法及相关设备
本公开提供一种硬件木马的检测方法及相关设备。该方法包括:获取目标类型芯片的器件参考布局图,以及获取待测芯片处于工作状态时的光子辐射图;判断所述光子辐射图与所述器件参考布局图的布局信息是否匹配;响应于所述待测光子辐射图与所...
黄周晨王坦王冲孙海晶石雪梅夏施君
降低商业低轨卫星星座用元器件成本的方法研究被引量:2
2021年
文章分析了现阶段商业低轨通信卫星星座用元器件保障模式,导致的卫星研制成本居高不下的挑战,提出在保证卫星可靠性的前提下,从差异化元器件等级选型、优化集中采购模式和元器件差异化质保等3个方面论述降低商业卫星星座用元器件成本的方法,以达到指导型号元器件选型、评价与验证、质量保证等,以建立起满足商业航天应用需求的元器件低成本长期稳定供应体系,支撑商业航天型号工程顺利实施,为国内商业低轨卫星星座用元器件供应模式提供借鉴参考。
赵丽张楠王坦雷亚珂尹世刚
塑封结构内部缺陷检测设备、方法及存储介质
本公开提供的一种塑封结构内部缺陷检测设备、方法及存储介质,包括:探测探头,设置于塑封结构外,被配置为能够发出照射于塑封外壳的波长为1000nm至1100nm的探测激光,使塑封外壳在探测激光的照射下产生探测声波;接收探头,...
王坦徐德刚李宏民谷成王与烨岳冰钟凯李吉宁
文献传递
一种塑封器件分层缺陷检测方法
本发明公开了一种塑封器件分层缺陷检测方法在原有塑封器件批量超声检测前增加塑封器件采购后的预处理程序,用于去除塑封器件内部吸收水分,并通过超声扫描检测图像前后对比确定是否为吸湿塑封器件,进而通过分层缺陷变化的时间来确定每次...
冯慧王坦
文献传递
片式电阻结构分析技术研究被引量:2
2020年
片式电阻结构和功能相对简单,在航天产品上使用广泛,国产化率也高,但是对于一些高精度和低温度系数的电阻,其可靠性性水平还有待进一步提高。结构分析作为一种新的评价元器件设计、结构、材料和工艺可靠性技术,在设计阶段介入可以及时发现影响电阻性能和可靠性的因素。论文以国产军用片式电阻为对象开展了结构分析,结果表明端电极中的阻挡层未延伸至保护膜上且与内电极之间存在缝隙,使用过程中内电极容易发生腐蚀,引起阻值异常甚至开路。
邝栗山王坦
关键词:片式电阻
一种MEMS加速度传感器件的开封方法
本发明公开了一种MEMS加速度传感器件的开封方法,包括:(1)将待二次开封的MEMS加速度传感器件加热使粘合剂失效,自然冷却;(2)将传感器件放在涂胶的第一金属片上,使其底部的凸台与涂胶的第一金属片粘合;(3)加热使胶完...
陈波张虹王坦刘路扬石雪梅顾颖吕兵邝栗山
文献传递
基于THz-TDR的芯片金属微带线缺陷检测
2024年
针对体积小、走线密集、集成度高的封装芯片缺陷检测,目前的主要检测手段存在精度低、周期长等缺点。为弥补传统检测方法的不足,作者结合太赫兹技术与时域反射技术,探究对芯片上金属导线缺陷检测的可行性。首先在不同宽度的金属微带线上加工了不同比例的凸起、凹槽缺陷,模拟集成芯片中金属导线的不完全开/短路等阻抗不匹配情况,利用太赫兹时域反射计采集其时域反射信号。然后根据时域反射脉冲对应的时间分别对不同缺陷程度、不同缺陷类型进行定性分析,并精确计算出了芯片上金属微带线的缺陷位置。最后利用有限元分析法对硅基底上存在缺陷的金属微带线进行仿真分析,与实验结果具有良好的一致性。该研究表明,太赫兹技术与时域反射技术结合能够实现对芯片上金属导线缺陷的诊断检测,为集成芯片的缺陷检测提供了经验参考。
徐振徐德刚刘龙海李吉宁张嘉昕王坦任翔乔秀铭姜晨
关键词:太赫兹微带线集成芯片
塑封器件的开封方法
本发明公开了一种塑封器件的开封方法,包括:先对塑封器件内部各个元件和芯片的位置和深度进行定位,得到器件内部各个元件和芯片的大小、位置以及深度信息;采用激光烧蚀的方法对所述塑封器件进行开封,以去除塑封器件表面的包封材料,使...
王坦刘晓昱贺峤
化学品安全转运车
本申请提供一种化学品安全转运车,其特征在于,包括:箱体,箱体内部自上而下依次设有承载层和保护层,其中承载层包括防护板和托盘,防护板上开设有多个放置孔,放置孔与化学品包装瓶外径适配,用于限制化学品包装瓶在水平方向的位移;托...
韩树强王坦贺洋王冲甄子新张楠
集成电路双面老炼方案研究
2020年
动态老炼试验是元器件可靠性试验中极为重要的过程,通过老炼可以剔除早期失效元器件。本论文简单介绍了老炼试验的重要性、实现方式及特点,并结合提出了两种双面老炼板工艺效率改进方案,均能在不增购老炼设备的前提下将老炼效率提升80%以上,并通过实践验证了其可行性。
罗晶赵鹏王坦
共4页<1234>
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