梅林
- 作品数：29 被引量：27H指数：4
- 供职机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所更多>>
- 发文基金：国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：理学机械工程电子电信一般工业技术更多>>
- 一种用于确定非正入射条件下光学原件透过率的方法
- 本发明提供一种用于确定非正入射条件下光学原件透过率的方法，属于光学原件领域。解决现有的方法需要透过率已知的参考样品、需要制作两个透过率完全一致的样品、样品透过率存在制作误差与测量误差的问题。该方法先按照分光光度计的透过率...
- 贺健康张立超才玺坤武潇野时光梅林隋永新杨怀江
- 球面元件表面AlF_3薄膜的光学特性和微观结构表征被引量：5
- 2013年
- 在模拟球面元件曲率半径的仿面形夹具上镀制了AlF3单层薄膜,并对不同口径位置上的薄膜进行了比较,以表征球面元件表面镀制薄膜的光学特性和微观结构。首先,采用紫外可见光分光光度计测量了不同口径位置上薄膜样品的透射和反射光谱,反演得出AlF3的折射率和消光系数。然后,使用原子力显微镜观察了样品的表面形貌和表面粗糙度。最后,使用X射线衍射仪对薄膜的内部结构进行了表征。实验结果表明:在球面不同位置镀制的AlF3单层薄膜样品的光学损耗随着所在位置口径的增大而增大。口径为280 mm处的消光系数是中心位置处消光系数的1.8倍,表面粗糙度是中心位置的17.7倍。因此,球面元件需要考虑由蒸汽入射角不同带来的光学损耗的差异。
- 时光梅林张立超
- 关键词：热蒸发
- 用于确定光学材料激光辐照老化寿命的加速实验方法
- 用于确定光学材料激光辐照老化寿命的加速实验方法，涉及光学材料，解决测试光学元件的使用寿命时，存在的耗费时间长，且浪费人力物力等问题，同时采用加速实验方法时无法确定加速比的问题，本发明方法将材料加工成符合激光量热吸收测试所...
- 张立超赵灵才玺坤武潇野时光梅林贺健康隋永新杨怀江
- 文献传递
- 用于确定光学材料激光辐照老化寿命的加速实验方法
- 用于确定光学材料激光辐照老化寿命的加速实验方法，涉及光学材料，解决测试光学元件的使用寿命时，存在的耗费时间长，且浪费人力物力等问题，同时采用加速实验方法时无法确定加速比的问题，本发明方法将材料加工成符合激光量热吸收测试所...
- 张立超赵灵才玺坤武潇野时光梅林贺健康隋永新杨怀江
- 文献传递
- 可调节式光学镀膜夹具
- 可调节式光学镀膜夹具，涉及光学镀膜领域，解决了现有镀膜夹具存在的只针对单一尺寸和单一形状的待镀膜基片而当待镀膜基片的尺寸和形状发生改变时不再适用的问题。本发明包括连接构件；开有多个T型槽的固定导向构件；一一对应安装在T型...
- 时光张立超梅林才玺坤武潇野贺健康隋永新杨怀江
- 一种光度计变角度测试夹具
- 本发明一种光度计变角度测试夹具，属于光谱测量领域，解决了现有技术中测量不准确、误差大的技术问题；本发明包括支撑机构和两个相同的样品夹持机构，所述支撑机构包括连接单元和角度转换单元，所述连接单元包括一个U形槽和三个通孔，连...
- 时光张立超梅林武潇野才玺坤赵灵贺健康隋永新杨怀江
- 文献传递
- 一种光学元件超声波清洗装置
- 本发明涉及一种超声波清洗装置，属于光学镀膜技术领域；为了解决在超声波清洗过程中不同的原件必须准备不同规格的装置，不仅成本高，并且仍然存在规格不匹配的技术问题；本装置包括金属外框、金属横梁、支柱固定夹和锁紧固件；水平平行安...
- 武潇野张立超时光梅林才玺坤贺健康隋永新杨怀江
- 文献传递
- 离子束溅射制备GdF_3光学薄膜沉积速率分布特性被引量：2
- 2016年
- 本文采用离子束溅射方法制备GdF_3薄膜,并研究其沉积速率分布特征。首先,采用膜厚仪测量得出GdF_3薄膜在行星盘平面的二维沉积速率分布图,通过拟合模型得到二维沉积速率分布公式。其次,分析了束流束压及靶材角度对沉积速率分布特征的影响。最后,以二维沉积速率分布公式为基础,通过计算机编程设计均匀性挡板,并进行膜厚均匀性实验验证。结果表明,沉积速率在水平方向上满足ECS函数分布,在竖直方向上满足标准Gauss分布,拟合公式残差为2.05×10^(-6)。改变离子源的束流和束压,沉积速率分布特征保持不变。而随着靶材角度的增大,Gauss分布的半峰宽值ω逐渐增大,峰值位置x_c逐渐增大,在θ=292°时,GdF_3薄膜的沉积速率最大。通过挡板修调实验,可将270 mm口径平面元件的膜厚均匀性调整为97.9%。
- 贺健康张立超才玺坤时光武潇野梅林
- 关键词：离子束溅射光学薄膜沉积速率膜厚均匀性
- 一种清洗和镀膜为一体的夹具
- 一种清洗和镀膜为一体的夹具，属于光学镀膜技术领域，解决了现有技术中在清洗和镀膜的过程中造成元件污染和崩边的技术问题；包括镜座S1、镜座S2、连接构件、清洗支撑构件和固定构件；镜座S1和镜座S2为圆环形，在镜座S1和镜座S...
- 谷勇强时光张立超梅林武潇野才玺坤赵灵贺健康隋永新杨怀江
- 一种用于确定非正入射条件下光学元件透过率的方法
- 本发明提供一种用于确定非正入射条件下光学原件透过率的方法，属于光学原件领域。解决现有的方法需要透过率已知的参考样品、需要制作两个透过率完全一致的样品、样品透过率存在制作误差与测量误差的问题。该方法先按照分光光度计的透过率...
- 贺健康张立超才玺坤武潇野时光梅林隋永新杨怀江
- 文献传递
