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张洪波

作品数：3 被引量：1H指数：1
供职机构：华越微电子有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电场
  • 1篇电场分布
  • 1篇氧化层
  • 1篇双极
  • 1篇外延层
  • 1篇芯管
  • 1篇埋层
  • 1篇晶圆
  • 1篇晶圆测试
  • 1篇划片
  • 1篇基板
  • 1篇管芯
  • 1篇硅片
  • 1篇发射区
  • 1篇半导体
  • 1篇并行测试

机构

  • 3篇华越微电子有...

作者

  • 3篇张洪波
  • 2篇余庆
  • 2篇张晓新
  • 2篇周卫宏
  • 1篇潘国刚

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 2篇2017
  • 1篇2004
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
一种半导体管芯基板
本实用新型公开了一种半导体管芯基板，芯管基片上下两侧的划片槽内均开设有第一对位标记，芯管基片左右两侧的划片槽内均开设有第二对位标记，第一对位标记包括以3行7列形式设置的第一对位因子，第二对位标记包括以3列8行形式设置的第...
陈昂刘炜张晓新余庆赵铝虎陆辉葛亚英周卫宏张洪波
文献传递
多测位并行测试的探索与实践被引量：1
2004年
多测位并行测试技术是半导体测试业节约成本、提高效率的新途径,应用好并行测试技术可以大幅度降低测试成本。本文讲述了用台湾久元的SCUD-512型测试机和东京精密的UF200探针台实现双测位并行测试的实践过程,另外还介绍了并行测试技术在晶圆测试过程中的若干技术问题和解决方案。
张洪波
关键词：晶圆测试
一种新型高压双极单管结构
本实用新型公开了一种新型高压双极单管结构，包括基板和氧化层，所述基板的埋层上方靠近氧化层的一侧上设置有磷桥和P‑基区，P‑基区上设置有P基区，P基区上设置有N+发射区，磷桥与埋层相连；所述P‑基区外环绕设置有第一N+环，...
陆辉张晓新余庆赵铝虎陈昂周卫宏潘国刚张洪波张敏森
文献传递
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