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邹春梅
作品数:
6
被引量:2
H指数:1
供职机构:
电子科技大学
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相关领域:
理学
电子电信
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合作作者
左长明
电子科技大学微电子与固体电子学...
路胜博
电子科技大学微电子与固体电子学...
催旭梅
电子科技大学微电子与固体电子学...
姬洪
电子科技大学微电子与固体电子学...
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邹春梅
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催旭梅
传媒
1篇
功能材料与器...
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3篇
2007
3篇
2006
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无标样测量薄膜厚度和密度的方法
无标样测量薄膜厚度和密度的方法,属于材料分析技术领域。利用X射线以小角度方式入射待测薄膜样品,当入射X射线的有效穿透深度t小于薄膜厚度d时,利用X射线荧光分析仪检测薄膜元素所激发的X射线荧光的相对强度I<Sub>F</S...
左长明
路胜博
邹春梅
文献传递
相同厚度不同基片的YBCO薄膜的X射线衍射微结构与应力分析
薄膜的微结构与工艺条件密切相关。YBCO 薄膜的 Tc 受到薄膜的微结构及薄膜的厚度制约。我们用不同的基片相同的实验方法制备了相同厚度的 YBCO 薄膜。用 X 射线衍射对这些样品进行结构分析。薄膜微结构有明显的变化,实...
邹春梅
左长明
关键词:
YBCO
微结构
氧化物薄膜应力的X射线衍射表征与研究
氧化物薄膜由于其丰富的物理性质可广泛地被用于微电子学,光电子学以及微电子机械系统等领域。信息时代的发展要求电子器件集成化,导致了传统的体材器件向薄膜化器件、分离器件向集成化器件转变。氧化物薄膜的微结构、应变、形貌以及性能...
邹春梅
关键词:
氧化物薄膜
微结构
应力
文献传递
无标样测量薄膜厚度和密度的方法
无标样测量薄膜厚度和密度的方法,属于材料分析技术领域。利用X射线以小角度方式入射待测薄膜样品,当入射X射线的有效穿透深度t小于薄膜厚度d时,利用X射线荧光分析仪检测薄膜元素所激发的X射线荧光的相对强度I<Sub>F</S...
左长明
路胜博
邹春梅
文献传递
相同厚度不同基片的YBCO薄膜的X射线衍射微结构与应力分析
本文通过分析论证:薄膜的微结构与工艺条件密切相关.YBCO薄膜的Tc受到薄膜的微结构及薄膜的厚度制约.我们用不同的基片相同的实验方法制备了相同厚度的YBCO薄膜.用X射线衍射对这些样品进行结构分析.薄膜微结构有明显的变化...
邹春梅
左长明
关键词:
YBCO
微结构
薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电流密度的影响
被引量:2
2007年
用MOD方法在LAO基片上沉积不同厚度的YBCO薄膜。用X射线衍射仪对这一系列样品进行表征分析,研究随着薄膜厚度的增加微结构的变化及临界电流密度的变化。X射线衍射分析发现YBCO薄膜取向度随薄膜厚度的增加,在800nm时取得最佳值之后又随厚度增加由强变弱。晶格常数c随着膜厚的增加而增大。本研究对这一系列样品进行了扫描分析和摇摆曲线半高宽的计算,并对800nm的YBCO薄膜做了倒易空间图谱分析,实验结果发现800nm的YBCO薄膜晶化比较好。本研究还分析了薄膜厚度对YBCO薄膜临界电流密度的影响。
邹春梅
左长明
路胜博
催旭梅
姬洪
关键词:
YBCO薄膜
微结构
倒易空间
临界电流密度
摇摆曲线
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