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胡加辉

作品数:6 被引量:11H指数:2
供职机构:深圳大学光电子学研究所广东省光电子器件与系统重点实验室更多>>
发文基金:深圳市科技计划项目广东省粤港关键领域重点突破项目国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇电子电信
  • 2篇理学

主题

  • 4篇GAN
  • 3篇SI(111...
  • 3篇衬底
  • 2篇缓冲层
  • 2篇SI(111...
  • 2篇MOCVD
  • 1篇氮化
  • 1篇氮化物
  • 1篇氮化镓
  • 1篇形貌
  • 1篇生长温度
  • 1篇欧姆接触
  • 1篇铟锡氧化物
  • 1篇金属有机化学...
  • 1篇金属有机物
  • 1篇金属有机物化...
  • 1篇化物
  • 1篇化学气相
  • 1篇化学气相沉积
  • 1篇过渡层

机构

  • 6篇深圳大学
  • 3篇河北工业大学

作者

  • 6篇胡加辉
  • 5篇冯玉春
  • 5篇朱军山
  • 4篇郭宝平
  • 3篇徐岳生
  • 3篇张建宝
  • 2篇王文欣
  • 2篇刘彩池
  • 2篇杨建文
  • 1篇李忠辉

传媒

  • 2篇发光学报
  • 1篇Journa...
  • 1篇稀有金属
  • 1篇人工晶体学报

年份

  • 6篇2005
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
过渡层结构和生长工艺条件对S i基G aN的影响被引量:2
2005年
为了提高MOCVD外延硅基GaN材料的质量,在硅(111)衬底上以HT-A lN为缓冲层,在缓冲层上再生长变组份过渡层后外延生长GaN。过渡层为多层复合结构,分为高温变组分A lGaN、GaN、低温A lN、高温变组分A lGaN。在高温生长A lGaN和GaN层中插入一层低温生长A lN以缓解降温过程中应力对厚GaN层的影响,为了缓慢释放热应力、采用合适的慢降温工艺。当外延层的厚度小于1.7微米时GaN外延层无龟裂,而厚度不断增加时,GaN外延层产生龟裂。本文研究了A lN缓冲层生长温度、高温变组分A lGaN生长过程中生长时间的变化对所生长GaN材料的影响。采用三维视频显微镜、高分辨率双晶X射线衍射(DCXRD)、扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)和室温光致荧光光谱(RT-PL)对样品进行了测试分析。测试结果表明所研制的硅基GaN表面光亮、平整,过渡层的引入有利于降低外延层中应力,提高GaN结晶质量。
冯玉春胡加辉张建宝王文欣朱军山杨建文郭宝平
关键词:SI(111)CANALNALGAN
MOCVD外延GaN材料研究
本文利用低压金属有机物化学汽相沉积系统(LP-MOCVD)分别在c面蓝宝石(Sapphire)衬底和Si(111)衬底上外延生长六方相GaN单晶薄膜和LED外延片,围绕提高GaN外延层质量的目的,主要在以下两个方面展开工...
胡加辉
关键词:GAN衬底
文献传递
双缓冲层法在硅上外延生长GaN研究
2005年
利用金属有机物化学金相沉积MOCVD在Si(111)衬底上,以高温AlN和低温GaN为缓冲层生长的GaN薄膜,得到GaN(0 0 0 2 )和(10-12 )的双晶X射线衍射(DCXRD)半高宽(FWHM )分别为72 1和840s。采用高分辨率DCXRD ,扫描电子显微镜(SEM )分析。结果表明,以10 40℃生长的AlN缓冲层能防止Ga与Si反应形成无定形的Si Ga结构,是后续生长的“模板”。低温的GaN缓冲层可有效减低外延层的缺陷。DCXRD测得的FWHM为0 .2 1,GaN峰强达7K。
朱军山胡加辉徐岳生刘彩池冯玉春郭宝平
关键词:SI(111)GAN
Si(111)衬底上GaN的MOCVD生长被引量:4
2005年
利用LP-MOCVD在S i(111)衬底上,以高温A lN为缓冲层,分别用低温GaN(LT-GaN)和偏离化学计量比富Ga高温GaN(HT-GaN)为过渡层外延生长六方相GaN薄膜。采用高分辨率双晶X射线衍射(DCXRD),扫描电子显微镜(SEM),原子力显微镜(AFM)和室温光致荧光光谱(RT-PL)进行分析。结果表明,有偏离化学计量比富Ga HT-GaN为过渡层生长的GaN薄膜质量和光致荧光特性均明显优于以LT-GaN为过渡层生长的GaN薄膜,得到GaN(0002)和(10ī2)的DCXRD峰,其半峰全宽(FWHM)分别为698 s和842 s,室温下的光致荧光光谱在361 nm处有一个很强的发光峰,其半峰全宽为44.3 m eV。
胡加辉朱军山冯玉春张建宝李忠辉郭宝平徐岳生
关键词:氮化镓SI(111)金属有机化学气相沉积
Ni/ITO与p型GaN的欧姆接触被引量:2
2005年
通过环形传输线方法(CTLM),电流-电压(I-V)曲线、光学透过率、表面形貌等手段,研究了N i层厚度和N i层的高温退火对N i/ITO与p型氮化镓接触特性的影响,探讨了N i/ITO-p-GaN欧姆接触的形成机制,提出了低温氧化N i金属层的方法。获得接触电阻率(cρ)小于9.5×10-5Ω.cm2,透过率达到74%(470 nm)的N i/ITO-p-GaN电极。
冯玉春张建宝朱军山杨建文胡加辉王文欣
关键词:欧姆接触
Si(111)衬底上生长的GaN的形貌与AlN缓冲层生长温度的关系被引量:3
2005年
利用LP-MOCVD技术在Si(111)衬底上,用不同温度生长AlN缓冲层,再在缓冲层上外延GaN薄膜.采用高分辨率双晶X射线衍射(DCXRD)技术和扫描电子显微镜(SEM)分析这些样品,比较缓冲层生长温度对缓冲层和外延层的影响,并提出利用动力学模型解释这种温度的影响.进一步解释了GaN外延层表面形貌中“凹坑”的形成及“凹坑”与缓冲层生长温度的关系.结果表明,温度的高低通过影响缓冲层初始成核密度和成核尺寸来影响外延层表面形貌.
朱军山徐岳生郭宝平刘彩池冯玉春胡加辉
关键词:MOCVDGAN缓冲层
共1页<1>
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