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崔勇国

作品数:5 被引量:5H指数:1
供职机构:吉林大学更多>>
发文基金:吉林大学青年教师基金国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 2篇理学

主题

  • 3篇半导体
  • 3篇半导体材料
  • 3篇MOCVD法
  • 3篇衬底
  • 3篇ZNO薄膜
  • 2篇金属有机化学...
  • 2篇化学气相
  • 2篇化学气相沉积
  • 2篇GAAS衬底
  • 2篇MOCVD方...
  • 1篇异质结
  • 1篇光学
  • 1篇光学特性
  • 1篇PL谱
  • 1篇P型
  • 1篇SI
  • 1篇SI衬底
  • 1篇ZNO
  • 1篇MOCVD
  • 1篇GAAS

机构

  • 5篇吉林大学

作者

  • 5篇崔勇国
  • 4篇张源涛
  • 4篇杜国同
  • 4篇朱慧超
  • 3篇张宝林
  • 3篇杨树人
  • 1篇李万成
  • 1篇常遇春
  • 1篇刘大力
  • 1篇李万程

传媒

  • 2篇人工晶体学报
  • 1篇Journa...
  • 1篇第十三届全国...

年份

  • 1篇2006
  • 3篇2005
  • 1篇2004
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
MOCVD法制备MgZnO合金薄膜
2005年
采用金属有机化学气相沉积方法在C面蓝宝石衬底上生长MgxZn1-xO合金薄膜.c轴取向的MgxZn1-xO薄膜在600.~630℃温度下沉积.通过X射线衍射和透射光谱研究了薄膜的结构和光学特性.研究表明当x的取值小于等于0.39时,合金薄膜保持ZnO的六角形纤锌矿结构,没有观察到MgO分相,此时薄膜的能带宽度可以在3.3~3.95eV之间调节.
张源涛朱慧超崔勇国张宝林杨树人杜国同
关键词:金属有机化学气相沉积
采用MOCVD方法在GaAs衬底上生长ZnO(002)和ZnO(100)薄膜被引量:5
2005年
采用金属有机化学汽相沉积生长法(MOCVD),在不同的衬底表面处理条件和生长温度下,在GaAs衬底上生长出了ZnO薄膜。随着化学腐蚀条件的不同,可生长出优先定位不同的ZnO(100)和ZnO(002)薄膜。该薄膜的晶体结构特性是由X光衍射谱仪(XRD)所获得的,而其光学特性是由光荧光谱仪(PL)来测的。与ZnO(002)相比,ZnO(100)薄膜具有更优越的晶体结构特性,并且在同样的生长温度下都具有相似的光学特性。对于腐蚀条件不同的GaAs衬底所进行的XPS分析结果表明,ZnO薄膜优先定位变化的主要原因在于腐蚀过程中形成的富As层。
崔勇国张源涛朱慧超张宝林李万程杜国同
关键词:ZNO薄膜半导体材料
采用MOCVD方法在Si和GaAs衬底上生长ZnO薄膜及其特性研究
崔勇国
关键词:MOCVDGAAS衬底SI
文献传递
采用MOCVD法在p型Si衬底上生长ZnO薄膜
2005年
采用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)法在p型S i(100)衬底上生长未掺杂的n型ZnO薄膜。在不同的生长温度下,c轴取向ZnO薄膜被生长在S i衬底上,生长所采用的锌源为二乙基锌(DEZn),氧源为氧气(O2)。通过X射线衍射(XRD)、光电子能谱(XPS)和荧光光(PL)谱研究了薄膜的结构和光学特性。研究表明温度为610℃时生长的ZnO薄膜显示最好的结构和光学特性。此外,所生长n-ZnO/p-S i异质结的I-V特性曲线都表现明显的整流特性,且反向漏电流很小。在620℃生长的异质结的漏电流相对最大,大于在其它温度下生长的异质结的漏电流。
张源涛崔勇国张宝林朱慧超李万成常遇春杨树人杜国同
关键词:ZNO薄膜SI衬底PL谱异质结
MOCVD法制备MgZnO合金薄膜
采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)方法在c面蓝宝石衬底上生长Mg<,x>Zn<,1-x>O合金薄膜.c轴取向的Mg<,x>Zn<,1-x>O薄膜在600-630·温度下沉积.通过X射线衍射和透射光谱研究了薄膜的结构和...
张源涛朱慧超崔勇国刘大力杨树人杜国同
关键词:金属有机化学气相沉积半导体材料光学特性
文献传递
共1页<1>
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