您的位置: 专家智库 > >

董志华

作品数:15 被引量:13H指数:2
供职机构:山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术更多>>

文献类型

  • 12篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 13篇电子电信
  • 3篇一般工业技术

主题

  • 11篇溅射
  • 11篇磁控
  • 11篇磁控溅射
  • 9篇射频磁控
  • 9篇射频磁控溅射
  • 6篇氨化
  • 6篇ZNO
  • 5篇GA
  • 5篇GAN薄膜
  • 4篇纳米
  • 3篇氮化
  • 3篇自组装
  • 3篇纳米线
  • 3篇硅基
  • 3篇SI基
  • 3篇GA2O3
  • 2篇中间层
  • 2篇晶体
  • 2篇挥发
  • 2篇发光

机构

  • 15篇山东师范大学
  • 1篇山东理工大学

作者

  • 15篇董志华
  • 14篇薛成山
  • 11篇庄惠照
  • 10篇高海永
  • 8篇王书运
  • 5篇何建廷
  • 4篇魏芹芹
  • 4篇田德恒
  • 4篇孙振翠
  • 4篇吴玉新
  • 3篇曹文田
  • 2篇郭兴龙
  • 2篇刘亦安
  • 1篇李忠
  • 1篇于先进
  • 1篇李玉国
  • 1篇杨利
  • 1篇高海勇

传媒

  • 3篇稀有金属材料...
  • 3篇微纳电子技术
  • 2篇微细加工技术
  • 1篇材料科学与工...
  • 1篇Journa...
  • 1篇电子元件与材...
  • 1篇科学技术与工...
  • 1篇2004年中...

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2006
  • 5篇2005
  • 5篇2004
  • 2篇2003
  • 1篇2002
15 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
合成GaN粗晶体棒的研究被引量:2
2005年
利用磁控溅射系统,在Si(111)衬底上的SiC缓冲层上溅射Ga2O3纳米颗粒薄膜。然后令该薄膜在NH3中高温退火,在产物中发现直径为数百纳米的GaN棒。直径如此大的GaN棒在国内外鲜有报道。该晶体棒被认为是在Ga2O3薄膜与NH3自组装反应过程中形成。该工艺可为合成大尺寸GaN一维结构提供一条新的途径。
董志华薛成山庄惠照王书运高海永田德恒吴玉新何建廷刘亦安
关键词:磁控溅射自组装反应
Si基ZnO/Ga_2O_3氨化反应制备GaN薄膜被引量:3
2004年
利用射频磁控溅射法在Si(111)衬底上先溅射ZnO缓冲层,接着溅射Ga_2O_3薄膜,然后ZnO/Ga_2O_3膜在开管炉中850℃常压下通氨气进行氨化,反应自组装生成GaN薄膜。XRD测量结果表明利用该方法制备的GaN薄膜是沿c轴方向择优生长的六角纤锌矿多晶结构的薄膜,利用傅里叶红外吸收光谱仪测量了薄膜的红外吸收谱,利用SEM和TEM观测了薄膜形貌,PL测量结果发现了位于350nm和421nm处的室温光致发光峰。
庄惠照高海永薛成山王书运董志华
关键词:氨化射频磁控溅射
硅基SiC中间层辅助法合成GaN薄膜和纳米线的研究
本文对硅基SiC中间层辅助法合成GaN薄膜和纳米线进行了研究。文章采用射频磁控溅射法沉积Ga2O3/SiC薄膜,然后利用薄膜样品的氨化反应获得GaN薄膜。SiC做为中间层,用磁控溅射法先于Ga2O3沉积到Si(111)衬...
董志华
关键词:半导体薄膜中间层纳米线
文献传递
竹叶状GaN纳米带的制备被引量:1
2004年
为了制备GAN纳米带,用射频磁控溅射法在Si(111)衬底上先溅射ZnO中间层,接着溅射Ga2O3,然后ZnO/Ga2O3膜在开管炉中1000℃下常压通氨气进行氨化。在氨气气氛中ZnO在高温下挥发,借助于ZnO挥发的帮助,Ga2O3与NH3反应自组装生成GaN纳米带。XRD分析结果表明GaN纳米带为六方纤锌矿结构,利用SEM观测GaN纳米带具有竹叶状形貌,PL谱测量发现了位于370nm处和460nm处的室温光致发光峰。
高海永庄惠照薛成山王书运董志华何建廷
关键词:半导体材料氨化挥发
磁控溅射制作金红石——TiO_2被引量:2
2003年
用磁控溅射方法制备了粒径大小为20nm的金红石———TiO2,用X射线(XRD)和扫描电镜(SEM)观察表面形貌,局部表观致密,颗粒大小均匀。
郭兴龙于先进薛成山董志华高海永
关键词:磁控溅射金红石TIO2
氮化Si基ZnO/Ga_2O_3制备GaN薄膜被引量:1
2004年
利用射频磁控溅射法在Si衬底上先溅射ZnO缓冲层,接着溅射Ga2O3薄膜,然后ZnO/Ga2O3膜在管式炉中常压下通氨气进行氮化,反应自组生成GaN薄膜。XRD测量结果表明,利用该方法制备的GaN薄膜是沿c轴方向择优生长的六角纤锌矿多晶结构的薄膜,利用SEM观测了其表面形貌,PL测量结果发现了位于351nm处的室温光致发光峰。
高海永庄惠照薛成山王书运董志华李忠
关键词:GAN薄膜射频磁控溅射氮化
氮化ZnO/Ga_2O_3薄膜合成GaN纳米管
2007年
利用射频磁控溅射法在Si(111)衬底上先溅射ZnO中间层,接着溅射Ga2O3薄膜,然后ZnO/Ga2O3薄膜在管式炉中常压下通氨气进行氮化,高温下ZnO层在氨气的气氛中挥发,而Ga2O3薄膜和氨气反应合成出GaN纳米管.X射线衍射(XRD)测量结果表明利用该方法制备的GaN具有沿c轴方向择优生长的六角纤锌矿结构.利用傅里叶红外光谱(FTIR)研究了所制备样品的光学性质.利用透射电子显微镜(TEM)和选区电子衍射(SAED)观测了样品的形貌和晶格结构.
庄惠照高海永薛成山王书运何建廷董志华
关键词:射频磁控溅射氮化
ZnO/Ga_2O_3膜的氨化温度对制作硅基GaN纳米材料的影响(英文)被引量:2
2005年
通过在不同温度下氨化ZnO/Ga2O3膜,在Si衬底上成功制备了GaN纳米结构材料。氨化前,ZnO层和Ga2O3膜分别通过射频磁控溅射法依次溅射到Si衬底上。用X射线衍射(XRD)、红外傅里叶变换光谱(FTIR)分析了GaN晶体的结构和组分,利用扫描电子显微镜(SEM)观察了样品的形貌。通过对测试结果的分析可知在Si衬底上由ZnO挥发辅助生长出六方纤锌矿GaN纳米结构晶体,并且ZnO/Ga2O3的氨化温度对形成GaN纳米材料具有明显的影响。
庄惠照高海永薛成山董志华
关键词:氨化挥发射频磁控溅射
以Ga2O3自组装反应合成单晶体GaN纳米线
通过氮化以射频磁控溅射法沉积在SiC中间层上的Ga2O3膜,令其发生自组装反应,来合成单晶体GaN纳米线。SiC中间层一方面能减小硅衬底与外延GaN的晶格失配及热失配,一方面对GaN纳米线沿某确定方向生长.发育成单晶结构...
薛成山董志华庄惠照王书运高海勇田德恒吴玉新刘亦安何建廷
关键词:氮化射频磁控溅射自组装
文献传递
热壁CVD法GaN微晶粒的制备
2003年
用热壁CVD法在Si(111)衬底上生长GaN薄膜,用扫描电镜(SEM)观察发现在表面上有大量微晶粒,这些晶粒的直径在2-4μm之间。用扫描电镜(SEM)、选区电子衍射(SAED)、X射线衍射谱(XRD)、傅里叶红外透射谱(FTIR)、光致荧光谱(PL)对样品进行了结构、组分及发光特性分析。结果表明:这些微晶粒为GaN六方铅锌矿。
薛成山魏芹芹孙振翠曹文田董志华
关键词:氮化镓薄膜发光特性
共2页<12>
聚类工具0