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李唤

作品数:4 被引量:4H指数:1
供职机构:中国科学技术大学物理学院近代物理系更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家基础科学人才培养基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学

主题

  • 2篇等离子体
  • 2篇快速成形制造
  • 1篇等离子体炬
  • 1篇直流辉光
  • 1篇质谱
  • 1篇束流
  • 1篇气相
  • 1篇氢等离子体
  • 1篇氢分子
  • 1篇离子
  • 1篇离子特征
  • 1篇金属
  • 1篇辉光
  • 1篇分子
  • 1篇感应耦合
  • 1篇CH
  • 1篇ECR
  • 1篇ICP
  • 1篇层流
  • 1篇H

机构

  • 4篇中国科学技术...

作者

  • 4篇李唤
  • 4篇杨宽
  • 4篇朱晓东
  • 4篇张一川
  • 1篇郑仕健
  • 1篇谢新华
  • 1篇丁芳
  • 1篇汤中亮
  • 1篇王建龙

传媒

  • 2篇物理学报
  • 2篇真空科学与技...

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2013
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
层流等离子体炬在快速成形制造中的应用被引量:2
2016年
本文开展了层流状态的直流等离子体炬在金属快速成形制造中应用研究。在放电电流70~80 A条件下,氩等离子体射流长度约为18 cm,而氮气作为工作气体时等离子体射流的长度明显高于氩气,可达40 cm。利用氩等离子体射流,进行了高约3 cm、外径约为2.8 cm的铜管状部件的快速成形制造。对部件截面进行了扫描电子显微镜和和X射线衍射分析,发现在截面上存在着微米量级的裂纹,这是由于快速成形制造过程中的相邻层间温度梯度诱发的热应力所致,裂纹外的组织结构均匀、致密;在截面上除了强的铜特征峰,还存在微弱的Cu^(2+)1O衍射峰,表明在成形过程中有氧气卷入,成形件内部出现微弱氧化。
王建龙杨宽张一川李唤朱晓东
关键词:层流快速成形制造
高气压直流辉光CH_4/H_2等离子体的气相过程诊断被引量:1
2013年
对高气压(约100Torr)直流辉光碳氢等离子体的气相过程进行了光谱和质谱原位诊断.在高气压下,等离子体不同区域光发射特性存在明显差异.正柱区存在着以C2和CH为主的多个带状谱和分立谱线,阳极区粒子发射谱线明显减少,而在阴极区则出现大量复杂的光谱成分,表明高气压情形下等离子体与阴极间强烈的相互作用将导致复杂的原子分子过程.从低气压到高气压演变过程中,电子激发温度降低而气体分子转动温度升高.在高气压下,高甲烷浓度导致C2,C2H2及C2H4增多而C2H6减少.表明在高气压条件下,气体温度对气相过程的影响作用显著增强.
郑仕健丁芳谢新华汤中亮张一川李唤杨宽朱晓东
关键词:质谱
氢分子束流引入对ECR氢等离子体中离子特征的影响
2017年
利用质量能量分析仪研究了微波电子回旋共振(ECR)氢等离子体的离子特征以及氢分子束流引入对离子特征的影响。在工作气压1 Pa的放电条件下,探测到了H+、H_2^+和H_3^+三种氢离子,其中H_2^+为主要离子;随放电功率的增加,探测到的离子通量增加。维持氢气放电条件不变,在工作区引入微量的氢分子束流。在束流增加的初始阶段,电子-离子的复合反应增强,探测到的三种离子通量都减小;相对于高能离子,低能区的离子数显著减少;三种离子归一化后H_2^+相对含量增加,H_3^+相对含量减少,而H^+的相对含量基本不变;相对含量的变化与不同离子-分子间碰撞的差异有关。随着氢气束流进一步增加,各种离子相对含量趋于稳定。
石正雨张一川杨宽李唤朱晓东
关键词:氢等离子体离子特征
ICP微等离子体射流在快速成形制造中的应用被引量:1
2016年
本文开展了大气压甚高频感应耦合(ICP)微等离子体射流的特性与应用研究.在150 MHz甚高频,功率为90 W条件下获得温度高达上千度的温热等离子体射流,射流长度近3 cm.随着气流量的增加射流将呈现层流到湍流的转变,长度先增后减;而功率对于射流长度的影响存在着一个上限,当等离子体吸收的能量与扩散损失的能量达到平衡时,射流长度将达到最大.利用这种ICP微等离子体射流进行了微尺寸金属铜的快速成形制造,得到了球冠状和柱状铜金属件.在扫描电子显微镜下观察到沉积物表面最小颗粒尺寸远小于铜粉颗粒;X射线衍射结果显示沉积物表面存在弱氧化物峰,这是沉积过程中空气被射流卷入所致.
张一川杨宽李唤朱晓东
共1页<1>
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