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刘六亭

作品数:11 被引量:8H指数:2
供职机构:南京电子器件研究所更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 4篇会议论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 11篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 4篇英寸
  • 4篇晶体管
  • 3篇外延片
  • 3篇脉冲
  • 3篇脉冲功率晶体...
  • 3篇功率晶体管
  • 3篇硅脉冲功率晶...
  • 3篇硅外延
  • 3篇硅外延片
  • 2篇外延层
  • 2篇微管
  • 2篇位错
  • 2篇
  • 2篇L波段
  • 2篇掺砷
  • 2篇掺砷衬底
  • 2篇衬底
  • 1篇电阻率
  • 1篇扫描电子显微...
  • 1篇势垒

机构

  • 7篇南京电子器件...
  • 3篇信息产业部
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 11篇刘六亭
  • 4篇马林宝
  • 4篇陆春一
  • 4篇郑承志
  • 4篇王因生
  • 4篇张树丹
  • 4篇谭卫东
  • 3篇柏松
  • 3篇李哲洋
  • 3篇谭卫东
  • 3篇马利行
  • 2篇董逊
  • 2篇张纪生
  • 2篇张岚
  • 2篇许晓军
  • 2篇陈正东
  • 2篇康小虎
  • 2篇骆红
  • 1篇李相光
  • 1篇邵凯

传媒

  • 4篇固体电子学研...
  • 3篇第十二届全国...
  • 1篇Journa...
  • 1篇电子工业专用...
  • 1篇第三届中国国...

年份

  • 1篇2007
  • 2篇2005
  • 3篇2001
  • 1篇2000
  • 1篇1995
  • 2篇1994
  • 1篇1993
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
4英寸硅外延片生产中外延层缺陷的分析与控制
硅外延过程中常引入各种宏观和微观缺陷.本文以4英寸<111>硅片为研究对象,探讨了外延层缺陷的形态、成因及其减少的方法.
谭卫东刘六亭马林宝陆春一
关键词:硅外延片控制方法
文献传递
Ni,Ti/4H-SiC肖特基势垒二极管被引量:1
2007年
采用本实验室生长的4H-SiC外延片,分别用高真空电子束蒸Ni和Ti做肖特基接触金属,Ni合金作欧姆接触,SiO_2绝缘环隔离减小高压电场集边效应等技术,制作出4H-SiC肖特基势垒二极管(SBD)。该器件在室温下反向击穿电压大于600 V,对应的漏电流为2.00×10^(-6)A。对实验结果分析显示,采用Ni和Ti作肖特基势垒的器件的理想因子分别为1.18和1.52,肖特基势垒高度为1.54 eV和1.00 eV。实验表明,该器件具有较好的正向整流特性。
汪浩柏松陈刚李哲洋刘六亭陈雪兰邵凯
关键词:碳化硅肖特基势垒二极管击穿电压
C波段3瓦T形电极硅双极晶体管被引量:1
1995年
本文报道了一种自对准T形电极结构的硅双极晶体管的制作和实验结果.这种结构的晶体管发射极和基极接触窗口的间距仅0.4μm,发射极排列周期为4μm.测试结果表明,晶体管在4.2GHz下,连续波输出功率大于3W,增益8dB和集电极效率40%;作为振荡应用时。在4.3GHz的振荡频率下,振荡输出功率可达1W,DC-RF转换效率为20%.
张树丹王因生李相光陈统华谭卫东郑承志刘六亭陈培棣
关键词:双极晶体管硅晶体管晶体管
L波段100W硅脉冲功率晶体管
1993年
南京电器件研究所采用φ75mm硅片研制成脉冲输出100W的L波段硅功率晶体管,
谭卫东张纪生熊承堃王因生张树丹刘六亭郑承志陈统华陈正东
关键词:功率晶体管P波段脉冲输出
3英寸重掺砷衬底高阻厚层硅外延生长技术
本文介绍了采用常压方式外延的方法,在3英寸重掺砷衬底上生长出了电阻率>80Ωcm,厚度>30μm的高质量硅外延层,从而使器件获得较为理想的结果,顺利通过设计定型.
谭卫东陆春一骆红刘六亭马林宝马利行
关键词:硅材料外延层
文献传递
L波段150W硅脉冲功率晶体管
1994年
L波段150W硅脉冲功率晶体管谭卫东,张纪生,王志楠,张树丹,王因生,郑承志,刘六亭,康小虎(南京电子器件研究所,210016)An150WL-BandSiliconBipolarPulsedPowerTransistor¥TanWeidong;Zh...
谭卫东张纪生王志楠张树丹王因生郑承志刘六亭康小虎
关键词:L波段脉冲功率晶体管
4英寸重掺砷衬底N型高阻薄层硅外延片
陆春一马林宝谭卫东马利行刘六亭
该项目产品是肖特基二极管、微波功率晶体管等许多器件的关键原材料,而这些器件的制作对外延材料都有较为特殊的要求,如外延层电阻率、厚度控制精确,外延层与衬底过渡区要尽可能小,外延层晶格完整性好等等。
关键词:
关键词:硅外延片
600 MHz 150W硅脉冲功率晶体管被引量:3
1994年
600MHz150W硅脉冲功率晶体管王因生,陈正东,张树丹,谭卫东,郑承志,刘六亭,康小虎,周德红,陈统华(南京电子器件研究所,210016)A600MHz150WSiliconBipolarPulsedPowerTransistor¥WangYin...
王因生陈正东张树丹谭卫东郑承志刘六亭康小虎周德红陈统华
关键词:功率晶体管脉冲
4英寸P/P+高阻厚层硅外延片电阻率的精确控制
本文讨论了影响P/P<'+>高阻厚层硅外延片外延层电阻率稳定控制的主要因素,采取立式常压外延,利用背面封闭技术,充分抑制了高温状态下低阻重掺硼衬底的杂质自掺杂效应,使得外延层电阻率得到精确的控制.该技术已成功地应用到4英...
谭卫东刘六亭骆红马林宝陆春一马利行
关键词:硅外延片电阻率
文献传递
4H-SiC同质外延中的缺陷
从实验出发,有LPCVD外延系统在偏向<110>方向8°的4H-SiC(0001)Si面衬底上,利用CVD技术进行了4H-SiC同质外延生长.外延后在熔融KOH腐蚀液中进行腐蚀,使用SEM和光学显微表征方法探讨了CVD法...
李哲洋刘六亭董逊张岚许晓军柏松
关键词:微管位错扫描电子显微镜外延层
文献传递
共2页<12>
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