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陈治国

作品数:9 被引量:5H指数:1
供职机构:电子科技大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 4篇会议论文
  • 2篇期刊文章
  • 2篇学位论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 7篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 8篇功耗
  • 3篇电路
  • 3篇亚微米
  • 3篇亚微米工艺
  • 3篇扫描测试
  • 3篇深亚微米
  • 3篇深亚微米工艺
  • 3篇微米工艺
  • 3篇漏电功耗
  • 2篇低功耗
  • 2篇电路功耗
  • 2篇动态功耗
  • 2篇CMOS
  • 2篇测试功耗
  • 1篇低功耗测试
  • 1篇电路设计
  • 1篇硬件
  • 1篇软硬件
  • 1篇软硬件协同
  • 1篇扫描链

机构

  • 7篇中国科学院
  • 6篇电子科技大学
  • 3篇清华大学

作者

  • 9篇陈治国
  • 7篇徐勇军
  • 6篇李晓维
  • 3篇骆祖莹
  • 1篇李华伟
  • 1篇韩银和
  • 1篇高光荣
  • 1篇赵荣彩
  • 1篇范东睿
  • 1篇何蓉晖
  • 1篇刘国华
  • 1篇蒋敬旗

传媒

  • 2篇第十届全国容...
  • 1篇计算机研究与...
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇第十届全国容...

年份

  • 1篇2021
  • 3篇2004
  • 5篇2003
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
基于堆栈效应的CMOS电路漏电流快速模拟
随着工艺的发展,功耗成为大规模集成电路设计领域中一个关键性问题.降低电源电压是减少电路动态功耗的一种十分有效的方法,但为了保证系统性能,必须相应地降低电路器件的阈值电压,而这样又将导致静态功耗呈指数形式增长,进入深亚微米...
徐勇军陈治国骆祖莹李晓维
关键词:漏电功耗深亚微米工艺
文献传递
集成电路低功耗测试方法研究
随着工艺的发展和集成电路规模的扩大,功耗已成为集成电路设计中的一个十分关键的问题,传统的低功耗设计主要围绕正常工作状态时动态功耗的估计和优化展开。测试技术是IC设计的重要环节,而在测试期间,电路有较多的跳变从而产生更多的...
陈治国
关键词:可测性设计扫描测试动态功耗低功耗测试集成电路设计
文献传递
负曲率反共振空芯光纤的传输特性研究
随着光纤技术的发展,光子晶体光纤被提出来,因其具有比传统光纤更优异的光学特性及设计灵活特点,其被广泛用于光纤通讯、光纤传感、非线性光学、高功率激光传输和光纤激光器等领域。负曲率反共振空芯光纤(negative curva...
陈治国
关键词:传输特性热效应谐振抑制
深亚微米CMOS电路漏电流快速模拟器被引量:4
2004年
随着工艺的发展 ,功耗成为大规模集成电路设计领域中一个关键性问题 降低电源电压是减少电路动态功耗的一种十分有效的方法 ,但为了保证系统性能 ,必须相应地降低电路器件的阈值电压 ,而这样又将导致静态功耗呈指数形式增长 ,进入深亚微米工艺后 ,漏电功耗已经能和动态功耗相抗衡 ,因此 ,漏电功耗快速模拟器和低功耗低漏电技术一样变得十分紧迫 诸如HSPICE的精确模拟器可以准确估计漏电功耗 ,但仅仅适合于小规模电路 首先证实了CMOS晶体管和基本逻辑门都存在堆栈效应 ,然后提出了快速模拟器的漏电模型 ,最后通过对ISCAS85& 89基准电路的实验 ,说明了在精度许可 (误差不超过 3% )的前提下 ,模拟器获得了成百倍的加速 。
徐勇军陈治国骆祖莹李晓维
关键词:漏电功耗深亚微米工艺
软硬件协同的低功耗系统设计
李晓维赵荣彩徐勇军韩银和骆祖莹何蓉晖刘国华范东睿陈治国蒋敬旗李华伟高光荣
在体系结构级,以目前国际流行参考基准,构建了超标量体系结构低功耗分析模拟环境,结合龙芯通用CPU芯片设计,完成了低功耗分析研究。在编译优化级,研究多线程低功耗的编译优化技术,针对支持多线程的两类体系结构模型,分别提出相应...
关键词:
关键词:低功耗软硬件协同系统设计技术
基于概率分析的扫描测试功耗研究
本文通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型。该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计;在此基础上,依据扫描单元的置1 概率重排扫描链可以有效地降低扫描功耗。实验结果表明,这种方法是...
陈治国徐勇军李晓维
关键词:测试功耗扫描测试
文献传递
一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型被引量:1
2004年
文章通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型。该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计。在此基础上,依据扫描单元的置1概率重排扫描链能有效地降低扫描功耗。实验结果表明,这种方法是有效可行的。
陈治国徐勇军李晓维
关键词:CMOS电路扫描链电路功耗静态功耗动态功耗
基于概率分析的扫描测试功耗研究
本文通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型.该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计;在此基础上,依据扫描单元的置1概率重排扫描链可以有效地降低扫描功耗.实验结果表明,这种方法是有...
陈治国徐勇军李晓维
关键词:测试功耗扫描测试电路功耗
文献传递
基于堆栈效应的CMOS电路漏电流快速模拟
随着工艺的发展,功耗成为大规模集成电路设计领域中一个关键性问题。降低电源电压是减少电路动态功耗的一种十分有效的方法,但为了保证系统性能,必须相应地降低电路器件的阈值电压,而这样叉将导致静态功耗呈指数形式增长,进入深亚微米...
徐勇军陈治国骆祖莹李晓维
关键词:漏电功耗深亚微米工艺
文献传递
共1页<1>
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