武荣荣
- 作品数：4 被引量：25H指数：2
- 供职机构：北京航空航天大学可靠性与系统工程学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 军用电磁继电器失效分析研究被引量：21
- 2013年
- 军用电磁继电器的可靠性要求极高,任何失效情形必须找出失效原因,进行失效归零。总结了军用电磁继电器的失效分析方法,并对贮存和使用过程中常见的失效模式及失效机理进行分析。针对机械变形、环境应力等影响电磁继电器失效的典型因素及其作用机理进行详细探讨。在此基础上,完成了两个军用电磁继电器失效的实际案例研究。最后,结合失效机理研究提出电磁继电器的可靠性改进措施。
- 黄姣英胡振益高成武荣荣
- 关键词：电磁继电器失效模式
- 瞬变电压抑制器浪涌寿命模型探讨
- 2014年
- 瞬变电压抑制器(TVS)的浪涌寿命是TVS使用方最为关注的可靠性指标。在对TVS浪涌寿命特点及其主要影响因素分析的基础上,根据Arrehenius模型原理建立了TVS浪涌寿命与脉冲峰值电流倍数和环境温度这两个主要影响因素的关系模型,基于加速浪涌寿命试验数据确定了该模型中待定系数的取值。鉴于TVS使用条件可能与试验条件不同,采取调整系数的办法对模型进行完善,通过理论计算给出非试验波形调整系数的计算公式,通过试验数据和MIL-HDBK-217F中TVS失效率模型调整系数给出了质量调整系数和环境调整系数。试验数据表明建立的TVS浪涌寿命模型比较客观地反映了TVS的浪涌寿命与主要使用因素的关系。
- 姜丽武荣荣黄姣英贾颖
- 关键词：瞬变电压抑制器
- 一种基于PLC的多个分离连接器的分离试验控制器
- 一种基于PLC的多个分离连接器的分离试验控制器，它是由可编程逻辑控制器即PLC、人机交互界面即HMI、控制指示面板、24V直流电源、光电隔离输入电路和金属氧化物半导体型场效应管即MOS驱动电路组成；可编程逻辑控制器通过R...
- 黄姣英胡振益武荣荣司世红王宇飞
- 文献传递
- 抗辐射晶体管3DK9DRH的贮存失效分析被引量：4
- 2013年
- 为了找到并纠正抗辐射晶体管3DK9DRH贮存失效的原因,利用外部检查、电性能测试、检漏、内部水汽检测、开封检查等试验完成了对晶体管3DK9DRH的一种贮存失效分析。结果表明晶体管存在工艺问题,内部未进行水汽控制,加上内部硫元素过高,长期贮存后内部发生了氧化腐蚀反应,从而导致晶体管功能失效。对此建议厂家对晶体管的生产工艺进行检查,对水汽和污染物如硫元素等加以控制,及时剔除有缺陷的晶体管。
- 武荣荣黄姣英高成
- 关键词：晶体管辐照加固
