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北京自动测试技术研究所
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姜岩峰
作品数:108
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供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:各向异性腐蚀 硅 集成电路 JTAG MEMS
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张东
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供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:集成电路测试 集成电路 测试向量 测试系统 动力电池组
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阳辉
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供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:模拟电路 故障诊断 小波变换 非线性电路 连续小波变换
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高剑
作品数:45
被引量:83
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供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:并行测试 测试向量 自动测试系统 存储器测试 串行接口
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李杰
作品数:38
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供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:集成电路测试仪 主控制器 动力电池组 自动测试设备 ATE
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于明
作品数:34
被引量:42
H指数:3
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:测试向量 自动测试设备 动力电池组 串行接口 管脚
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张东
作品数:28
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H指数:4
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:芯片测试 RFID VERILOG 边界扫描测试技术 混合信号集成电路
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冯建科
作品数:27
被引量:47
H指数:3
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:FPGA 集成电路测试仪 测试系统 FPGA测试 VXI总线
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郭士瑞
作品数:24
被引量:27
H指数:3
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:集成电路测试系统 并行测试 自动测试设备 在线编程 FPGA器件
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刘春来
作品数:15
被引量:9
H指数:2
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:芯片测试 电路板 液晶显示 驱动芯片 RFID
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