北京自动测试技术研究所
- 作品数：211 被引量：225H指数：7
- 相关作者：姜岩峰张东阳辉高剑李杰更多>>
- 相关机构：北方工业大学北京大学中国科学院微电子研究所更多>>
- 发文基金：北京市自然科学基金教育部“新世纪优秀人才支持计划”国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程经济管理更多>>
- 一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法被引量：4
- 2006年
- 在IC产业链中,测试是必不可少的环节之一,而如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于伺服环方法和权位点测试法提出了一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法,并在自主开发的JC-3196A集成电路测试系统上实现。该方法具有普遍的适用性,对降低数模混合信号集成电路的测试成本具有重要意义。
- 李坤冯建华李素君赵雪莲
- 关键词：模数转换器伺服环
- 电路板故障诊断系统的快速控制原型方法研究被引量：1
- 2013年
- 电路板故障诊断系统的核心是各种智能故障诊断方法的设计与参数确定,本文提出一种将快速控制原型技术应用到PCB故障诊断系统中算法设计和验证的方法,在MATLAB环境下利用RTWT提供的NI数据采集卡驱动,实现Simulink中的实时测量。这样做的好处是,可将MATLAB的多种智能算法工具箱所实现的算法与实际诊断数据结合,优化故障诊断算法及其参数,并为实际代码生成做好准备。
- 史宏亮张东刘春来
- 关键词：快速控制原型
- 北京集成电路测试技术联合实验室正式启动
- 2010年
- 近日，在北京自动测试技术研究所的泰思特大厦，北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立的“北京集成电路测试技术联合实验室”正式启动。
- 于韶光
- 关键词：测试技术集成电路微电子
- 一种HDMI测试系统的设计与实现被引量：4
- 2017年
- 高清晰度多媒体接口(HDMI)在数字多媒体领域中被广泛应用,由于其传输速度快,传统ATE无法直接测试。为此设计了一种针对HDMI的高速测试方法,开发了以芯片解码和同步校验为核心的功能测试模块,该模块可实现对HDMI传输数据的控制、分析、通信与监测。将模块嵌入到具备VXI总线的集成电路测试系统中,可实现较完整的功能和直流参数测试。测试实验提示,本方法稳定可靠,测试效率高。
- 高剑
- 关键词：高清晰度多媒体接口自动测试系统
- 精密直流参数测试模块
- 1996年
- 本文介绍了精密直流参数测试模块的特点、基本原理及测试方法,并对提高测试精度进行了研究。
- 郭茜楠
- 关键词：集成电路直流参数
- 液晶屏显示驱动芯片测试技术研究被引量：2
- 2016年
- 液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。
- 濮德龙刘春来张东
- 关键词：芯片测试
- IEEE1149.4模拟和混合信号测试总线标准
- 2011年
- 模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信号集成电路甚至包含混合信号的SoC系统芯片上,都有应用。本文主要描述该测试标准的基本架构,提出系统测量方法及应用实例,希望对于该标准在国内的应用有一定推广意义。
- 姜岩峰张东王鑫
- 关键词：混合信号
- IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究
- 2012年
- 本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。
- 刘林生张东陈建新
- 关键词：IEEE混合信号电路测试
- 分立器件时间测量单元的研制被引量：1
- 2014年
- 分立器件的时间参数测量是分立器件参数测量的重要组成部分,随着分立器件设计技术的不断提高,如何高效准确地测试分立器件的时间参数是分立器件交流参数测试研究的重点。本文介绍了时间参数测量电路,从频率可调的方波产生电路,到时间测量电路做了一个系统的描述,此时间测量单元的测试结果在JC90分立器件测试仪器上得到了正确的验证。
- 胡爱民
- 关键词：分立器件方波驱动
- VLSI与电子系统的层次化可测性设计被引量：1
- 1996年
- 论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成电路的可测试性设计问题。
- 陈庆方吴烈诩戴昌培赵振峰
- 关键词：可测性设计数模混合集成电路系统级测试
