2024年8月2日
星期五
|
欢迎来到维普•公共文化服务平台
登录
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
长春光学精密机械学院电子系电子信息工程系
作品数:
2
被引量:10
H指数:2
相关作者:
杨晓慧
更多>>
相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
机械工程
更多>>
相关机构
长春光学精密机械学院电子系电子...
发表作品
相关人物
相关机构
所获资助
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
2篇
中文期刊文章
领域
1篇
机械工程
1篇
电子电信
1篇
自动化与计算...
主题
1篇
电传感器
1篇
质量控制图
1篇
数学模型
1篇
探测器
1篇
温度补偿
1篇
控制图
1篇
集成制造系统
1篇
计算机
1篇
计算机集成
1篇
计算机集成制...
1篇
计算机集成制...
1篇
光电
1篇
光电传感器
1篇
光电探测
1篇
光电探测器
1篇
感器
1篇
APD
1篇
CIMS
1篇
CIMS环境
1篇
传感
机构
2篇
长春光学精密...
1篇
吉林职业师范...
作者
1篇
李桂英
1篇
裴玉国
1篇
杨晓慧
1篇
陈殿仁
传媒
1篇
长春光学精密...
1篇
计算机工程与...
年份
1篇
2002
1篇
1998
共
2
条 记 录,以下是 1-2
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
APD 光电探测器温度补偿方法研究
被引量:5
1998年
本文推导了APD光电传感器最佳倍增因子理论关系式,研究了C30950E的温度补偿方法和有关电路系统设计。
李桂英
陈殿仁
关键词:
光电探测器
APD
温度补偿
光电传感器
基于CIMS环境下质量控制图的研究
被引量:5
2002年
摘 要:计算机辅助质量(CAQ)是计算集成制造系统(CIMS)不可分割的重要组成部分,而质量控制图是其中的关键技术。分析了传统控制图应用于CIM系统存在的缺陷和不足,提出了适于小批量生产的均值(X)控制图,使其在产品批量较少或生产加工的初期阶段等环境下得到很好的应用,而且随着检测数据的增加,其控制界限与传统方法得到的控制界限相一致,同样适合于大批量的生产环境。
杨晓慧
裴玉国
关键词:
数学模型
计算机集成制造系统
CIMS
质量控制图
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张