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李强

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供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
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郭全顺
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：VXD PCI接口 PCI 板卡设计 驱动程序开发
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张东
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：集成电路测试 集成电路 测试向量 测试系统 动力电池组
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
王皓民
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：测试系统 半导体分立器件 分立器件
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张生文
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：集成电路测试系统 VXI总线 图形发生器 VXI 信息产业发展
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
李力军
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：测试矢量 测试代码 参数测试 微处理器 自动测试设备
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
姜岩峰
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：各向异性腐蚀 硅 集成电路 JTAG MEMS
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
李立军
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：测试系统 分立器件
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
阎伟
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：并行测试 多通道 存储介质 VXI总线 循环冗余校验
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
冯建科
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：FPGA 集成电路测试仪 测试系统 FPGA测试 VXI总线
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
郭士瑞
供职机构：北京自动测试技术研究所
研究主题：集成电路测试系统 并行测试 自动测试设备 在线编程 FPGA器件
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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