李军
- 作品数：7 被引量：104H指数：4
- 供职机构：华中科技大学光学与电子信息学院电子科学与技术系更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划湖北省自然科学基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信机械工程化学工程一般工业技术更多>>
- PLZT厚膜研究被引量：2
- 2001年
- 研究了用 Sol- Gel法制备 PL ZT- 7.5 /70 /30微粉的工艺 ,进行了相应厚膜的制备。探讨了微粉团聚问题及防止团聚的有关措施。由 X射线衍射分析可知 ,在 70 0°C下制备的 PL ZT- 7.5 /70 /30厚膜为纯钙钛矿相。从铁电与热释电性测量结果可知 ,纯钙钛矿相 PL ZT- 7.5 /70 /30厚膜的矫顽场 Ec在 2 8°C和 43°C下分别为 2 4.2 5k V/cm和 18.13 k V/cm ,热释电系数 p =0 .46 n C/cm2 ·°C。以上数据表明 ,PL ZT- 7.5 /70
- 曾亦可刘梅冬李军夏冬林
- 关键词：功能材料
- 粉末-溶胶法制备掺LaPZT0-3型厚膜被引量：3
- 2000年
- 用粉末 -溶胶 0 - 3型厚膜技术制备出厚度为 10μm的 PL ZT厚膜。PL ZT超细陶瓷粉采用 sol- gel法制备 ,这样保证了其化学组分的准确 ,降低了合成温度。在 Pt底电极上 ,掺 L a PZT (PL ZT- 8/5 3/4 7)厚膜的择优取向为 [111]与 Pt的取向一致 ,而纯 PZT(PL ZT- 0 /5 3/4 7)厚膜的择优取向为 [10 0 ]。在同等工艺条件下 ,掺 L a PZT厚膜晶粒大于纯 PZT厚膜的晶粒。厚膜介电、铁电性能分别使用 HP4192 A低频阻抗分析仪和 ZT- 铁电材料参数测试仪进行测试 ,结果表明掺 L a PZT厚膜的频率特性较好 ,矫顽电场强度 Ec有显著降低。
- 曾亦可刘梅冬李军夏冬林
- 关键词：PLZT厚膜陶瓷
- 热释电系数自动测试系统的研究被引量：5
- 2001年
- 介绍了铁电薄膜材料热释电系数的测量原理和电路 ,着重设计了PA级前置放大电路 ,并对PLT铁电薄膜样品进行了测试。
- 郭明金刘梅冬曾亦可李楚容李军刘少波夏冬林黄焱球
- 关键词：热释电系数前置放大器自动测试系统红外探测器铁电薄膜材料
- 带隙参考电压源温度曲线固有弯曲的一种修正方法被引量：4
- 2004年
- 随着数模混合电路和模拟集成电路的进一步发展 ,在集成电路内部的设计中需要更高质量的内部稳压基准源。但实际上 ,基本带隙电压参考源中得到的参考电压温度系数并不为 0。文中着重分析了温度系数不为 0的原因 ,设计了一种能补偿其固有温度曲线弯曲的方法。此方法能使带隙参考电压源在相当宽的温度范围内具有相当低的温度系数。
- 林昭昭李军雷鑑明吴丹陈军刘三清
- 关键词：带隙参考电压源温度曲线集成电路
- 非接触式红外测温的研究被引量：69
- 2001年
- 对非接触式红外测温作了综述 ,介绍了红外测温的意义、原理、方法 。
- 李军刘梅冬曾亦可李楚容郭明金黄焱球刘少波夏冬林
- 关键词：普朗克定律维恩位移定律
- 热释电红外测温系统被引量：12
- 2004年
- 介绍了利用热释电红外传感器(探测器)进行非接触式红外测温的原理、红外测温系统结构和信号处理电路的组成,目的是实现对移动物体的非接触式温度测量。以此为基础,组装了一套微机红外测温实验装置,用该装置测定了目标表面温度变化规律。在大约190℃测量精度达到最高,其残差为9 5。测试结果表明,热释电红外测温系统有望实现实用化。
- 曾亦可刘梅冬姜胜林李军周东祥
- 关键词：热释电红外传感器系统结构信号处理电路
- 新型Sol-Gel技术PZT铁电厚膜的制备及电学性能研究被引量：10
- 2001年
- 采用新型ｓｏｌ－ｇｅｌ技术在 Ｐｔ／Ｔｉ／ＳiO2/Si基片上制备出了厚度为 ２～６０μｍ的ＰＺＴ铁 电厚膜材料；研究了ＰＺＴ厚膜的结构及其介电、铁电性能．ＸＲＤ谱分析显示，ＰＺＴ厚膜 呈现出纯钙钛矿相结构，无焦绿石相存在．ＳＥＭ电镜照片显示，ＰＺＴ膜厚均匀一致，无裂 纹、高致密．厚度为５０μｍ的ＰＺＴ厚膜的介电常数为８６０，介电损耗为０.０３，剩余极化强度 是２５μＣ／ｃｍ２．矫顽场是４０ｋＶ／ｃｍ.
- 夏冬林刘梅冬曾亦可李军黄焱球刘少波
- 关键词：介电性能铁电性能铁电陶瓷溶胶-凝胶方法
