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王云生
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1
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中华人民共和国工业和信息化部
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合作作者
张绵
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王云生
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2000
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半绝缘砷化镓中的低频振荡及其对FET噪声性能的影响
2000年
在无光照条件下测量背栅时,部分半绝缘砷化镓材料呈现明显低频振荡。对振荡特性进行了初步研究,并观察了振荡对GaAsMESFET噪声性能的影响。实验结果表明了采用不同低频振荡特性的材料制备器件时,其噪声性能也有差别。
张绵
王云生
李岚
白锡巍
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半绝缘GAAS
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FET
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