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杨白久
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供职机构:
国防科技大学
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合作作者
丁道一
国防科技大学
何焰蓝
国防科技大学
高翔
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第四届全国高...
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2006
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激光散斑法测量纵向微位移
本文较为详细的叙述了激光散斑技术在计量方面的应用,介绍了二次曝光法在测量面内位移的方法。在上述基础上论述了激光散斑对纵向微位移的测量,作了一些理论和实验的探索,并对实验结果进行了详细的分析,实验结果与理论符合较好。
高翔
杨白久
何焰蓝
丁道一
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