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张艳杰

作品数：6 被引量：2H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
发文基金：河北省自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇标准
  • 1篇科技成果

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 3篇电路
  • 3篇电路板
  • 3篇陶瓷
  • 3篇陶瓷基
  • 3篇陶瓷基板
  • 3篇微波晶体管
  • 3篇晶体管
  • 3篇基板
  • 3篇加速寿命试验
  • 3篇高温
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体器件
  • 1篇失效模式
  • 1篇自动监控
  • 1篇微波半导体器...
  • 1篇微波功率器件
  • 1篇可靠性
  • 1篇功率器件
  • 1篇LDMOS

机构

  • 6篇中国电子科技...

作者

  • 6篇张艳杰
  • 5篇童亮
  • 4篇黄杰
  • 4篇高金环
  • 4篇彭浩
  • 1篇张瑞霞
  • 1篇裴选
  • 1篇茹志芹
  • 1篇迟雷

传媒

  • 1篇电子工艺技术

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2017
  • 1篇2015
  • 1篇2013
  • 2篇2012
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
本文件描述了一种确定半导体器件对热应力和机械应力耐受能力的方法，通过对器件内部芯片和试验时，周期性施加和移除正向偏置(负载电流)，使其温度快速变化。本试验是模拟电力电子的典型应用，也是对高温工作寿命(见IEC 60749...
张艳杰崔万国裴选
微波半导体器件加速应力筛选技术研究
童亮彭浩张瑞霞张艳杰高金环迟雷晋李华黄杰
该项目为工业和信息化部国防科学技术工业局下达的技术基础科研任务-质量与可靠性类别中的一项，项目名称为微波半导体器件加速应力筛选技术研究。项目编号为：Z202009B001，研制起止时间为：2009年～2011年。随着可靠...
关键词：
关键词：微波半导体器件微波功率器件
微波晶体管高温老炼装置
本实用新型公开了一种微波晶体管高温老炼装置，包括铝制外壳、下陶瓷基板、两个L型铜柱和上陶瓷基板。所述上陶瓷基板、两个L型铜柱和下陶瓷基板由上至下依次放置于铝制外壳内；所述两个L型铜柱放在上陶瓷基板和下陶瓷基板之间的凹槽内...
彭浩黄杰童亮张艳杰高金环
文献传递
微波晶体管高温老炼装置
本发明公开了一种微波晶体管高温老炼装置，包括铝制外壳、下陶瓷基板、两个L型铜柱和上陶瓷基板。所述上陶瓷基板、两个L型铜柱和下陶瓷基板由上至下依次放置于铝制外壳内；所述两个L型铜柱放在上陶瓷基板和下陶瓷基板之间的凹槽内；所...
彭浩黄杰童亮张艳杰高金环
文献传递
微波晶体管高温老炼装置
本发明公开了一种微波晶体管高温老炼装置，包括铝制外壳、下陶瓷基板、两个L型铜柱和上陶瓷基板。所述上陶瓷基板、两个L型铜柱和下陶瓷基板由上至下依次放置于铝制外壳内；所述两个L型铜柱放在上陶瓷基板和下陶瓷基板之间的凹槽内；所...
彭浩黄杰童亮张艳杰高金环
LDMOS功率器件可靠性筛选技术研究被引量：2
2017年
为了获得良好的筛选效果,剔除早期失效产品,通过对LDMOS功率器件的失效情况进行调研分析,设计了LDMOS功率器件的筛选方案。主要研究了LDMOS功率器件失效模式和失效机理之间的对应关系、失效机理与试验项目之间的关系。选取可覆盖全部失效模式的试验项目,并根据各试验项目的特性和作用对其进行排序,形成合理有效的LDMOS功率器件可靠性筛选方案。选用100只某型号LDMOS功率器件按照此方案进行筛选,并对失效产品进行失效分析,验证了方案的有效性。
张艳杰茹志芹童亮
关键词：LDMOS失效模式可靠性
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