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姚珂

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中国电子产品可靠性与环境试验研究所更多>>
相关领域：金属学及工艺自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇盐雾
  • 2篇盐雾试验
  • 2篇失效特征
  • 2篇凝露
  • 2篇紫外
  • 2篇紫外辐照
  • 2篇加速性
  • 2篇分立器件
  • 2篇辐照
  • 2篇干湿交替
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体分立器...

机构

  • 4篇中国电子产品...

作者

  • 4篇姚珂
  • 4篇罗琴
  • 4篇黄创绵
  • 2篇李坤兰
  • 2篇胡湘洪

年份

  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2017
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统
本发明涉及一种半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统，包括以下步骤：获取试验样品，对试验样品进行失效检测并分类，得到合格样品集和失效样品集，对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析得到第一分析结果，对失效样品集进行失效分...
罗琴李坤兰姚珂黄创绵胡湘洪
文献传递
涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用
本发明涉及一种涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用。该涂层的耐腐蚀性能测试方法包括：交替对样品进行紫外老化测试及盐雾测试，且紫外老化测试和盐雾测试均至少进行6次；紫外老化测试包括交替对样品进行紫外辐照试验及冷凝试验，且紫外辐照...
张洪彬苏少燕姚珂罗琴黄创绵王春辉汪凯蔚李锴张博
半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统
本发明涉及一种半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统，包括以下步骤：获取试验样品，对试验样品进行失效检测并分类，得到合格样品集和失效样品集，对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析得到第一分析结果，对失效样品集进行失效分...
罗琴李坤兰姚珂黄创绵胡湘洪
涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用
本发明涉及一种涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用。该涂层的耐腐蚀性能测试方法包括：交替对样品进行紫外老化测试及盐雾测试，且紫外老化测试和盐雾测试均至少进行6次；紫外老化测试包括交替对样品进行紫外辐照试验及冷凝试验，且紫外辐照...
张洪彬苏少燕姚珂罗琴黄创绵王春辉汪凯蔚李锴张博
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