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黄杰

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：国家半导体器件质量监督检验中心更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性评估

机构

  • 1篇国家半导体器...

作者

  • 1篇黄杰
  • 1篇张魁

传媒

  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 1篇2017
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
结构分析技术在外壳评价中的应用被引量：3
2017年
结构分析是一种重要的电子元器件可靠性评估方法。通过结构分析可以评估元器件内是否存在潜在的缺陷,为元器件的固有质量和固有可靠性的判断提供重要的依据。介绍了结构分析的一般技术流程,并将其应用于某型号半导体器件外壳的结构分析工作中,最后给出了有关结构分析工作的几点建议。
柳华光张魁黄杰
关键词：可靠性评估
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