杨陈
- 作品数：12 被引量：0H指数：0
- 供职机构：西安工业大学更多>>
- 发文基金：陕西省教育厅省级重点实验室科研与建设计划项目西安工业大学校长基金更多>>
- 相关领域：一般工业技术自动化与计算机技术理学更多>>
- 一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法
- 本发明涉及光学测量技术领域，具体涉及一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法。用于解决阵列结构光学元件面形的测量和评价问题。本发明采用方法步骤为：1）利用三维表面形貌检测装置对阵列结构光学元件进行检测，获得阵列结构光学元件...
- 李世杰李兆黄岳田杨陈梁海锋蔡长龙刘卫国
- HfSiO介质薄膜的制备及性能研究
- 近年来,氧化铪(HfO)在高介电常数栅介质和高激光损伤阀值薄膜材料研究中所表现出来的优异性能引起研究人员越来越多的关注,然而,由于HfO存在一些自身无法克服的缺点,如与Si之间存在较大的界面态、晶化温度低,非晶态薄膜中空...
- 惠迎雪杨陈杭凌侠徐均琪
- 关键词：折射率沉积速率
- 文献传递
- 一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法
- 本发明涉及光学测量技术领域，具体涉及一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法。用于解决阵列结构光学元件面形的测量和评价问题。本发明采用方法步骤为：1）利用三维表面形貌检测装置对阵列结构光学元件进行检测，获得阵列结构光学元件...
- 李世杰李兆黄岳田杨陈梁海锋蔡长龙刘卫国
- 退火La_2O_3薄膜表面形貌的演化与分析
- 2017年
- 为了研究退火温度对电子束蒸发法沉积的LaTiO_3薄膜晶体结构的影响,使用X射线衍射仪对薄膜晶体结构进行表征,采用扫描电子显微镜和光学显微镜对退火处理后的薄膜表面形貌进行了表征.使用图像二值化方法对薄膜晶化过程中产生的分形花样进行了采样,并通过分形计算获得了分形维数及多重分形谱,从而分析了不同退火温度下薄膜晶化特点.结果表明:随着退火温度的升高,非晶La_2O_3薄膜发生六方相形核长大和立方相形核长大两种不同的晶化过程,并且在立方相形核长大过程中伴随着分形结构的产生,薄膜在850~900℃之间存在两种相的形核转变点.
- 杨陈邵犬李建超
- 关键词：表面形貌
- 一种采用电子束蒸发技术制备Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>光电薄膜的方法
- 本发明属于一种光电薄膜制备技术领域，具体涉及一种采用电子束蒸发技术制备Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>光电薄膜的方法。本发明提供的技术方案是：通过Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub...
- 杨陈张进蔡长龙徐均琪
- 一种背照式微结构阵列宽光谱成像探测器及其制备方法
- 本发明涉及一种背照式微结构阵列宽光谱成像探测器及其制备方法。探测器包括由上至下叠置的顶端共用电极、p型微结构阵列基片和图形化底电极，顶端共用电极沉积于p型微结构阵列基片上部；p型微结构阵列基片与图形化底电极之间依次镀制p...
- 张进梁海锋刘卫国韩军张岩栗峥琪李世杰杨陈
- 一种采用液体楔镜测量酒精浓度的装置和测量方法
- 本发明提供了一种采用液体楔镜测量酒精浓度的装置和测量方法，所述装置包括激光器、准直镜、液体楔镜组件、汇聚成像系统、光能/位置转换器件和处理显示系统，所述液体楔镜包括楔形容器、带阀滴液管和废液缸，楔形容器上小下大。测量方法...
- 杨陈王媛陈阳李世杰薛一帆王志东
- 一种氧化镓纳米晶薄膜日盲紫外探测器及其制备方法
- 本发明涉及对于氧化镓纳米晶薄膜在日盲紫外光电探测方面的应用，具体涉及一种氧化镓纳米晶薄膜日盲紫外探测器及其制备方法。本发明采用单晶Si作为衬底，并采用电子束蒸发技术，在其上先沉积SiO<Sub>2</Sub>薄膜隔离层；...
- 杨陈张进蔡长龙邵雨
- 文献传递
- 一种氮化碳/锑掺杂二氧化锡异质结的制备方法
- 本发明公开了一种氮化碳/锑掺杂二氧化锡异质结的制备方法，利用异质结之间的能级结构和锑掺杂二氧化锡的导电性来提高氮化碳的载流子分离率，并将锑掺杂二氧化锡制成气凝胶形式来作载体，实现了增加光吸收率、污染物的吸附率、载流子分离...
- 王欣徐均琪惠迎雪杨陈庞利霞
- 文献传递
- 一种采用电子束蒸发技术制备Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>光电薄膜的方法
- 本发明属于一种光电薄膜制备技术领域，具体涉及一种采用电子束蒸发技术制备Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>光电薄膜的方法。本发明提供的技术方案是：通过Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub...
- 杨陈张进蔡长龙徐均琪
- 文献传递
