李俊玲
- 作品数：11 被引量：5H指数：2
- 供职机构：西安微电子技术研究所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构
- 本发明提供了一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构，有效降低了控制结构的复杂度，除去功能端口外，只需要具备移位使能SE(scan_enable)、测试模式(wtest_en)、测试时钟(test_clock)、扫...
- 李俊玲颜伟沈拉民刘才强
- 基于存储器内建自测试的全速测试设计被引量：3
- 2018年
- 存储器内建自测试(memory built-in-self-test,MBIST)已成为可测性设计(design-for-testability,DFT)中用以测试嵌入式存储器的重要方法.在一款以太网芯片中基于传统存储器内建自测试,提出了一种多级流水寄存器的全速测试结构,减少了测试时的读写时钟周期,缩短了测试时间,降低了测试成本.经过仿真验证,证明了该流水结构设计能够有效提高内建自测试效率.
- 张立博唐威颜伟李俊玲
- 关键词：存储器内建自测试
- 一种集成电路电子标识用自动化设计电路及方法
- 本发明公开了一种集成电路电子标识用自动化设计电路，本电路包括TAP控制器、可编程控制器和可编程器件，可编程器件用于存储集成电路的电子标识信息，通过TAP控制器生成并输出智能电子标识指令，再利用可编程控制器根据接收到的智能...
- 刘才强杨靓郑璐颜伟李俊玲缑昱萍邹斐李海松
- 一种混合电路中存储器芯片的测试装置
- 本发明一种混合电路中存储器芯片的测试装置，能够同时实现故障定位和诊断；其包括内建自测试电路和总线复用电路；内建自测试电路和总线复用电路设置在主控协议芯片上；内建自测试电路连接总线复用电路的选择信号端口，内建自测试电路通过...
- 李俊玲沈拉民颜伟屈博强
- 文献传递
- 一种混合电路中存储器芯片的测试装置
- 本发明一种混合电路中存储器芯片的测试装置，能够同时实现故障定位和诊断；其包括内建自测试电路和总线复用电路；内建自测试电路和总线复用电路设置在主控协议芯片上；内建自测试电路连接总线复用电路的选择信号端口，内建自测试电路通过...
- 李俊玲沈拉民颜伟屈博强
- 文献传递
- 一种片上嵌入式Flash的内建自测试结构
- 本发明提供了一种片上嵌入式Flash的内建自测试结构，包括自定义控制模块、FBIST控制器、ERASE模块和BYPASS模块，当FBIST控制器使能后，FBIST控制器发起操作，依据内部控制器状态机与自定义控制模块和ER...
- 颜伟沈拉民李俊玲
- 文献传递
- 一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构
- 本发明提供了一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，包括调试主控器和调试子控制器；调试主控器通过接收JTAG接口的数据，进行数据校验和指令解析后，将校验无误的数据送往相应的调试子控制器，进一步进行处理和执行，...
- 颜伟李俊玲沈拉民
- 基于SoC芯片测试结构的研究被引量：2
- 2007年
- 由于芯片规模的快速增长,给测试技术带来了新的挑战。结合系统芯片SoC测试结构的描述,对其核心部分测试外壳Wrapper和测试访问机制TAM做了论述,介绍了几类典型的测试访问机制TAM,分析其特点。同时对SoC的测试规划问题进行了讨论,指出了目前SoC测试面临的问题。
- 李俊玲于伦正
- 关键词：SOCTAM
- 一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构
- 本发明提供了一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构，有效降低了控制结构的复杂度，除去功能端口外，只需要具备移位使能SE(scan_enable)、测试模式(wtest_en)、测试时钟(test_clock)、扫...
- 李俊玲颜伟沈拉民刘才强
- 文献传递
- 一种片上嵌入式Flash的内建自测试结构
- 本发明提供了一种片上嵌入式Flash的内建自测试结构，包括自定义控制模块、FBIST控制器、ERASE模块和BYPASS模块，当FBIST控制器使能后，FBIST控制器发起操作，依据内部控制器状态机与自定义控制模块和ER...
- 颜伟沈拉民李俊玲
