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王轲

作品数：1 被引量：7H指数：1
供职机构：中国科学技术大学理学院更多>>
发文基金：国家基础科学人才培养基金更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇射线
  • 1篇透射
  • 1篇膜厚
  • 1篇X射线

机构

  • 1篇中国科学技术...

作者

  • 1篇张增明
  • 1篇孙晴
  • 1篇陶小平
  • 1篇孙腊珍
  • 1篇王轲

传媒

  • 1篇物理实验

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
X射线透射法测量膜厚被引量：7
2008年
薄膜厚度不仅与薄膜的电导率有关,而且与薄膜的光学性能甚至表面结构密切相关.薄膜厚度的测量精确有助于研究薄膜的物理性能.本文利用X射线在材料中传播的特征设计了大学物理实验室测量薄膜厚度的方法.
王轲陶小平孙晴张增明孙腊珍
关键词：膜厚X射线透射
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共1页<1>
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