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何健

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：飞索半导体更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电流
  • 1篇静电放电
  • 1篇放电
  • 1篇放电电流

机构

  • 1篇苏州大学
  • 1篇飞索半导体

作者

  • 1篇邢洁
  • 1篇王明湘
  • 1篇何健

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
影响ESD荷电器件模型放电电流的关键参数研究被引量：1
2007年
静电放电峰值电流是基于荷电器件放电模型的放电测试装置中波形验证的关键指标。针对影响放电峰值电流的几个因素:测试探针长度、直径、形状和充电盘绝缘介电层的厚度,研究了这些参数变化对放电峰值电流的影响规律。根据研究结果可调整相应参数,保证荷电器件放电模型的测试装置符合测试标准。基于LRC放电电路的等效模型,实验结果给出了到满意的定量或定性解释。
邢洁王明湘何健
关键词：静电放电
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