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于磊

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：北京有色金属研究总院更多>>
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合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇钨精矿
  • 1篇精矿
  • 1篇光谱
  • 1篇粉末压片
  • 1篇粉末压片法
  • 1篇半定量
  • 1篇半定量分析
  • 1篇WO
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光光...

机构

  • 1篇北京有色金属...

作者

  • 1篇宋永清
  • 1篇于磊

传媒

  • 1篇化工管理

年份

  • 1篇2015
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
X射线荧光光谱无标半定量分析钨精矿WO_3
2015年
在荷兰帕纳科公司提供的X射线荧光光谱基本参数法半定量分析的Sem IQ软件基础上进行钨精矿WO3的分析,用黑、白钨精矿的样品进行化学定值分析其中WO3、P、As、Ca、Cu、Sn、Si O2、Mo、Mn含量,采用粉末压[1]片法加入一定量粘合剂制备成标样,重新建立一套半定量分析方法,提高了钨精矿WO3分析的准确度。应用该方法进行了大量钨精矿中WO3的半定量分析,并与原软件方法对比,WO3分析结果明显改善。
于磊宋永清
关键词：X射线荧光光谱钨精矿粉末压片法
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