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王忆

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：辽宁公安司法管理干部学院更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇可靠性
  • 1篇集成电路
  • 1篇CMOS集成
  • 1篇CMOS集成...
  • 1篇DDQ
  • 1篇IDDQ测试
  • 1篇I

机构

  • 1篇辽宁公安司法...
  • 1篇沈阳市光明电...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇王忆
  • 1篇张磊
  • 1篇张浩

传媒

  • 1篇微处理机

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
浅谈CMOS集成电路的I_(DDQ)测试被引量：1
2007年
介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的。
张磊王忆张浩
关键词：IDDQ测试可靠性
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共1页<1>
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