- 一种用于X射线工业检测的多通道电荷读出IC
- 2014年
- 介绍了一种用于X射线工业检测的多通道电荷读出IC。该电荷读出IC可提供64个通道,将探测器电荷转换成模拟电压。电路由电荷放大器增益控制、增益电容阵列、时序发生器、移位寄存器链、电荷放大器阵列和采样保持放大器等组成,具有低噪声、14位动态范围等特性。电路芯片采用0.8μm标准CMOS工艺制造,芯片尺寸为3.1mm×10.9mm。电路在3.3MHz频率、5V电源电压和3.5V参考电压下工作,电路功耗为45mW。测试结果表明,在电荷放大器增益电容为0.5pF和光电二极管结电容为33pF下,电路的输出噪声达到600μV(Vrms)。
- 王旭杨洪艳袁颖吴武臣
- 关键词：低噪声动态范围
- 一种用于X射线安全检测的多通道电荷读出IC
- 2013年
- 介绍了一种用于X射线安全检测的多通道电荷读出集成电路。该电路可提供32通道的探测器电荷-模拟电压转换,具有无死区时间、失调校准和低噪声特性。电路由电荷放大器增益控制、时序发生器、移位寄存器链、电荷放大器阵列、采样保持放大器和驱动器等组成。芯片采用华润上华0.6μm标准CMOS工艺实现,管芯尺寸为3.1mm×7.1mm,工作在3.3MHz,5V供电和3.5V参考电压下的功耗为45mW。测试结果表明,在25.5pF的电荷放大器增益电容和52pF的光电二极管结电容下,电路的输出噪声性能达到90μV(Vrms)。
- 王旭杨洪艳袁颖吴武臣
- 关键词：死区时间安全检测
