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郑巍峰

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:江苏工业学院信息科学与工程学院功能材料实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇溶胶
  • 1篇电阻
  • 1篇电阻温度系数
  • 1篇多晶
  • 1篇多晶薄膜
  • 1篇多孔
  • 1篇氧化钒薄膜
  • 1篇正硅酸乙酯
  • 1篇溶胶-凝胶法
  • 1篇溶胶凝胶
  • 1篇溶胶凝胶法
  • 1篇溶胶凝胶法制...
  • 1篇退火
  • 1篇凝胶法制备
  • 1篇相变特性
  • 1篇快速退火
  • 1篇硅酸
  • 1篇二氧化钒
  • 1篇二氧化钒薄膜
  • 1篇VO

机构

  • 2篇江苏工业学院

作者

  • 2篇李金华
  • 2篇赵蒙
  • 2篇付学成
  • 2篇郑巍峰

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇江苏工业学院...

年份

  • 2篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
Ta掺杂VO_2多晶薄膜的相变特性
2009年
以氧化二乙酰丙酮合钒(C10H14O5V)为前驱体,乙醇钽[Ta(OC2H5)5]为掺杂剂,用溶胶-凝胶方法在Si(100)和SiO2/Si衬底上制备了V1-xTaxO2(x=0-0.1)多晶薄膜。XRD谱图显示薄膜呈(011)面取向生长。随着Ta掺杂量的增大,d(011)基本呈线性增大表明Ta替代了V在晶格中的位置,实现了替位掺杂。每掺杂1%原子比的Ta,相变温度降低7.8℃,相变热滞减小1℃。SiO2/Si衬底上5%原子比掺杂薄膜的相变温度为29.5℃,室温(300 K)电阻-温度系数(TCR)为-8.44%/K。两种衬底上掺杂V0.9Ta0.1O2薄膜的升温和降温电阻-温度曲线基本重合。实验结果显示,Ta是降低VO2薄膜的相变温度和消除相变热滞的有效掺杂剂。
赵蒙李金华郑巍峰付学成
关键词:二氧化钒薄膜电阻温度系数溶胶-凝胶法
溶胶凝胶法制备多孔SiO_2薄膜的新方法被引量:2
2009年
以氨水、醋酸为催化剂,用正硅酸已酯(TEOS)为Si源,甘油作为防裂剂,聚乙烯醇(PVA1750)作为致缓剂和发泡剂,制作多孔SiO2薄膜。碱催化使得硅-羟基化合物的溶解度增大,并抑制了SiO2的聚合,弱酸的二步催化使硅-羟基化合物聚合成10~100nm的胶粒。丙三醇和TEOS水解的中间体Si(OC2H5)4-x(OH)x硅羟基形成氢键,抑制了硅-羟基化合物的聚沉,PVA的存在减缓了溶胶的聚合,在快速退火炉热处理时产生多孔结构。多孔SiO的厚度在3μm内可调。
郑巍峰李金华赵蒙付学成
关键词:溶胶凝胶法正硅酸乙酯快速退火
共1页<1>
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