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王晋阳

作品数:4 被引量:10H指数:2
供职机构:装甲兵工程学院控制工程系更多>>
发文基金:国家自然科学基金中国人民解放军总装备部预研基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇混合电路
  • 2篇故障检测
  • 2篇BIT
  • 1篇单片
  • 1篇单片机
  • 1篇单片机系统
  • 1篇电路系统
  • 1篇信号
  • 1篇芯片
  • 1篇混合信号
  • 1篇机内测试
  • 1篇故障诊断
  • 1篇核设计
  • 1篇RAM芯片
  • 1篇SOPC
  • 1篇IEEE11...
  • 1篇IP核
  • 1篇IP核设计
  • 1篇RAM

机构

  • 4篇装甲兵工程学...
  • 1篇中国人民解放...
  • 1篇中国人民解放...

作者

  • 4篇陈圣俭
  • 4篇王晋阳
  • 1篇张胜满
  • 1篇徐磊
  • 1篇郑伟东
  • 1篇周浔
  • 1篇周银
  • 1篇高华
  • 1篇王蒙蒙
  • 1篇阳智
  • 1篇张开孝

传媒

  • 3篇计算机测量与...
  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 2篇2011
  • 2篇2010
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
基于SOPC的边界扫描测试控制器IP核设计被引量:6
2010年
在研究边界扫描数字电路测试技术标准IEEE1149.1的基础上,采用SOPC设计技术,用FPGA设计实现了一款基于Avalon总线的边界扫描测试总线控制IP核,与其它复用IP核可形成以NIOS Ⅱ处理器为核心的通用数字电路边界扫描测试控制器,该控制器产生符合IEEE1149.1标准的测试信号控制被测边界扫描系统,进行各种边界扫描测试;该IP核的成功设计,为基于边界扫描的电子系统机内自测试系统的实现,奠定了坚实的应用基础。
陈圣俭郑伟东张开孝王晋阳阳智
关键词:IEEE1149.1SOPCIP核
基于相关性模型的混合电路系统测试性设计研究被引量:2
2011年
针对测试性设计要求,基于IEEE1149.4标准,利用相关性模型对某控制盒的混合电路系统进行测试性分析与建模,建立被测系统各组成单元与边界扫描测试之间的相关性矩阵,得到优化的边界扫描器件置换与边界扫描结构置入方法.通过制定相应的诊断策略,给出一种通用的混合信号电子系统BIT设计方案.系统验证实验表明,该方法测试迅速,可以有效地提高电子系统测试性.
王晋阳陈圣俭张胜满宋克岭
关键词:混合信号BIT故障检测
基于边界扫描的单片机系统RAM芯片测试研究被引量:2
2011年
存储器具有存储容量大、集成度高以及工作速度快等特点,被广泛应用于现代电路设计中;在电路中,存储器能否正常工作,将直接影响整个系统工作状态是否稳定;为了提高系统的可靠性,对存储器进行可靠性测试是十分必要的;在介绍了存储器电路结构和故障的基础上,对某含有RAM存储器的CPU板进行了基于边界扫描的BIT测试性设计和改造,并对系统中的RAM芯片进行了测试性验证;实验结果表明,改造后的电路系统能够实现RAM自测试功能,且故障定位准确,达到了预期的设计目的,可有效提高系统的可靠性。
陈圣俭王蒙蒙王晋阳周银高华
关键词:RAM故障诊断
基于边界扫描的混合电路系统机内测试研究
2010年
当今电子系统多由模数混合电路组成,随着电子技术的飞速发展,混合电路系统的集成度不断增加,其检测问题一直是测试领域的一个难点;针对混合电路系统的测试特点,以IEEE1149.4标准为研究基础,对某系统控制盒电路进行基于边界扫描的BIT(Builit-in Test机内测试)测试性设计和改造,并将改进后的被测系统进行测试性验证;实验结果表明,该电路系统通过74BCT8373与STA400边界扫描芯片的置换和置入,能够实现混合电路的互连测试与参数测试,且测量迅速,故障定位准确,可以有效提高电路系统的测试性。
陈圣俭王晋阳宋克岭周浔徐磊
关键词:混合电路BIT故障检测
共1页<1>
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