刘珊珊
- 作品数：3 被引量：4H指数：1
- 供职机构：中国电子科技集团公司更多>>
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- 提高集成电路中测效率的方法研究被引量：1
- 2010年
- 从探针卡、测试设备、集成电路测试程序等几个不同的方面,在理论基础上结合实际工作中遇到的问题提出采取的有效解决方法,再针对不同的测试方法进行比较,从而达到提高集成电路中测效率的目的。
- 康锡娥刘珊珊
- 关键词：探针卡测试设备测试程序
- 数字电路测试程序设计被引量：3
- 2013年
- 为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。
- 刘珊珊康锡娥
- 关键词：测试向量
- 浅谈存储器测试
- 2008年
- 随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展,测试问题显得越来越突出和重要。下面主要介绍了存储器电路的分类,以及存储器电路的测试参数和测试向量。
- 刘珊珊康锡娥马菲
- 关键词：存储器测试向量
