张玉利
- 作品数：4 被引量：10H指数：1
- 供职机构：北京有色金属研究总院更多>>
- 发文基金：国家科技支撑计划北京市科技新星计划更多>>
- 相关领域：化学工程动力工程及工程热物理更多>>
- 高纯致密氧化镁陶瓷的常压和真空烧结被引量：9
- 2018年
- MgO为重要的功能型材料,磁隧道结（MTJ）以MgO薄膜作为势垒层时在室温下具有巨大的隧穿电阻效应。实验采用冷等静压（CIP）工艺将高纯MgO粉末（纯度〉99.99%）压制成相对密度为60%左右的坯体,再在500℃充分煅烧后分别进行常压烧结和真空烧结。通过优化烧结工艺参数,可制备得到用于溅射沉积MgO薄膜的高纯高致密MgO陶瓷靶。为了探讨烧结温度、保温时间、烧结气氛对MgO陶瓷致密化和晶粒生长的影响,对烧结后的MgO陶瓷进行取样,并对试样进行金相（OM）观察、X射线衍射（XRD）测试、断面扫描电镜（SEM）观察。结果表明：与常压烧结气氛相比,真空烧结气氛能明显提高MgO陶瓷的致密度,且在烧结中后期封闭气孔形成后真空烧结的作用更显著;在真空气氛进行1500℃保温4 h烧结,可得到相对密度为99.12%,平均晶粒尺寸11.71μm的高纯MgO陶瓷;真空烧结的MgO陶瓷晶粒尺寸更均匀,尺寸标准差低于4.8μm,晶粒沿（200）方向择优生长的趋势更明显,而常压烧结的MgO陶瓷晶粒尺寸分布范围较广,晶粒的择优生长趋势不明显。
- 陈淼琴何金江张玉利丁照崇贺昕
- 关键词：常压烧结真空烧结致密化
- 裂纹表征方式与潜藏现象对测量ZTA纳米复相陶瓷K_(IC)值的影响
- 2017年
- 研究裂纹表征方式与潜藏现象对测量ZTA纳米复相陶瓷K_(IC)值的影响,采用压痕法对ZTA陶瓷试样进行硬度及断裂韧性测试,并且利用光镜和扫描电镜两种方式进行相关长度值测量。结果表明:扫描电镜测试值普遍低于光镜测试值,这主要是由于裂纹的表征方式差异导致的放大倍数不同与裂纹潜藏现象所致;在相同的材料体系和载荷条件下,光镜和扫描电镜测试K_(IC)值数据可以近似进行线性拟合,其关系方程式为y=1.152x-0.199664。利用此方程可以实现两种测试值之间的近似转换,进而提高光镜测试准确性。
- 王辰张玉利汪成李维鑫张钰
- 关键词：ZTA压痕法纳米复相陶瓷
- α-SiAlON陶瓷近烧结温区显微组织演变分析
- 2014年
- 为了研究α-SiAlON陶瓷近烧结温度范围内显微组织变化并分析其断裂形貌,以α-Si3N4、Al2O3及AlN作为形成α-SiAlON相的主要原料,以Y2O3作为烧结助剂,采用冷等静压成型及无压烧结工艺制备了α-SiAlON陶瓷。利用XRD分析试样相组成,用SEM观察试样显微组织形貌,用EDS分析试样的元素组成。结果表明:利用国产Si3N4粉体在1800℃烧结能够形成α-SiAlON相、短柱状颗粒形成阶段是粉末转化为柱状晶的过渡阶段、SiAlON相柱状晶的三维乱序堆叠可以有效提高陶瓷基体的抗裂纹扩展能力,进而提升陶瓷的强度和韧性。
- 赵飞张玉利徐庆石
- 关键词：Α-SIALON柱状晶显微组织无压烧结
- SiAlON陶瓷中柱状晶断口显微组织形貌及其断裂增韧机理被引量：1
- 2015年
- 为了研究SiAlCN陶瓷中柱状晶断口显微组织形貌并分析其断裂增韧机理,以Si_3N_4、Al_2O_3、AlN及SiO_2为主要原料,在1800℃、流动N_2气氛下采用无压烧结工艺制备了SiAlCN陶瓷。利用SEM观察陶瓷试样的显微组织,并用能谱仪对试样的部分区域进行成分分析。结果表明:柱状晶断口形貌平整,内部隐藏许多细小的平行条纹,具有韧性断裂特征;自锁乱序堆叠以及柱状晶束是柱状晶的两种主要分布形式;柱状晶的侧表面条纹、沟槽、变形、端面韧窝状断口以及柱状晶束附近出现的平行沟槽等现象说明,柱状晶对陶瓷起到了强韧化作用。柱状晶束模式较自锁乱序堆叠模式更有助于陶瓷的强韧化。
- 王辰张玉利毛亚男韩阳
- 关键词：SIALON柱状晶显微组织增韧
