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宋金杨

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：中国电子科技集团公司第四十七研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇扫描测试
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路测试
  • 1篇边界扫描测试
  • 1篇边界扫描测试...
  • 1篇波特率
  • 1篇测试技术

机构

  • 1篇东北大学
  • 1篇东北微电子研...
  • 1篇沈阳辽海机械...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 2篇宋金杨
  • 1篇马云松
  • 1篇孙曦东
  • 1篇耿爽
  • 1篇耿爽

传媒

  • 1篇微处理机
  • 1篇沈阳航空工业...

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2007
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
在Teradyne J750上的测试程序调试被引量：1
2008年
由于Teradyne J750测试系统测试速度快,为节省机时,也顺应测试行业的发展,越来越多的程序开始在Teradyne J750测试平台上开发。下面以82C52芯片为例,介绍了在TeradyneJ750测试系统上测试程序的开发。
孙曦东马云松耿爽宋金杨
关键词：波特率
边界扫描测试技术在集成电路测试中的应用被引量：2
2007年
边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案。介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了该技术在集成电路测试中的应用。
耿爽宋金杨郜月兰
关键词：边界扫描测试技术
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共1页<1>
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