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王晶晶

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：江苏天瑞仪器股份有限公司更多>>
相关领域：理学金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇理学

主题

  • 1篇电子电器
  • 1篇微量铅
  • 1篇铅
  • 1篇铜

机构

  • 1篇江苏天瑞仪器...

作者

  • 1篇李强
  • 1篇王俊鹏
  • 1篇王晶晶

传媒

  • 1篇分析仪器

年份

  • 1篇2013
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
能量色散X射线荧光光谱仪测定电子电器铜制品中的微量铅被引量：3
2013年
采用能量色散X射线荧光光谱法测定电子电器铜制品中铅元素含量,通过使用单色光作为激发光源,降低初级X射线散射对测试的影响,有效提高检测精度。本法的检出限为10.1mg/kg。对铅含量为98mg/kg的铜样品测定12次,得到相对标准偏差为2.95%。方法可用于电子电器铜制品中微量铅的测定,测量结果与原子吸收光谱法分析结果相符。
李强王晶晶黄万燕王俊鹏
关键词：铅铜
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