您的位置： 专家智库 > >

刘笑

作品数：1 被引量：4H指数：1
供职机构：中山大学测试中心更多>>
发文基金：国家自然科学基金广东省自然科学基金更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇电子能
  • 1篇电子能谱
  • 1篇氧化钨
  • 1篇三氧化钨
  • 1篇纳米
  • 1篇纳米线
  • 1篇光电子能谱
  • 1篇光电子能谱研...

机构

  • 1篇中山大学

作者

  • 1篇龚力
  • 1篇谢方艳
  • 1篇陈建
  • 1篇张卫红
  • 1篇刘笑

传媒

  • 1篇分析测试学报

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
氩离子轰击还原三氧化钨纳米线薄膜的光电子能谱研究被引量：4
2009年
利用X射线光电子能谱(XPS)及氩离子刻蚀技术,原位研究了氩离子轰击对三氧化钨纳米线薄膜的还原作用,钨的价态由+6价逐渐被还原为0价,并获得了具有多价态结构的氧化钨薄膜。通过对实验结果的分析,定性描述了氩离子轰击还原三氧化钨纳米线薄膜的原理,认为择优溅射在整个还原过程中起着关键作用。
龚力刘笑谢方艳张卫红陈建
关键词：氧化钨纳米线光电子能谱
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0