支越
- 作品数：8 被引量：20H指数：3
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金广州市科技计划项目广东省科技计划工业攻关项目更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术电气工程航空宇航科学技术更多>>
- 基于过程能力指数的电子元器件质量一致性综合评价方法被引量：2
- 2018年
- 电子元器件产品质量的一致性是电子装备系统质量性能的重要基础。通过系统分析电子元器件质量性能一致性的影响因素,构建多层次的电子元器件质量的一致性评价指标体系,建立了基于过程能力指数的质量一致性综合评价模型和判据体系,为定量评价电子元器件质量的一致性提供了技术手段,可以为研制单位改进提升电子元器件质量的一致性,以及整机用户单位择优选择元器件提供技术支撑。
- 余永涛王小强支越罗宏伟蔡志刚
- 关键词：电子元器件综合评价过程能力指数
- 微型化器件中多晶Cu晶向排布对其受压力学特性的影响仿真研究被引量：1
- 2019年
- 为系统研究多晶Cu材料晶向排布对其受压力学特性的影响,通过采用晶体塑性有限元的方法模拟了不同晶向Cu的纳米压痕试验过程.仿真结果表明,从受力变形特点来看,当载荷为几何对称压入时,对称于压入面的两对滑移系呈现对称滑移,对应于各个方向的滑移系产生的塑性变形也呈现对称分布;当压入模式为非对称压入时,不同滑移面的各个滑移系产生的塑性应变均不对称;从受力响应来看,压入方向越趋向于垂直于密排面{111},压入载荷水平越高,在压入深度从100 nm增加至500 nm过程中,伴随压入方向与密排面夹角从0°增加至54.732°,压入载荷从5.090 mN增加至5.674 mN.上述结论对Cu晶向择优和微互连设计具有重要的指导意义,有利于微互连结构可靠性的提升.
- 支越方来旺王之哲罗宏伟王小强
- 关键词：塑性变形纳米压痕
- 基于片式固体钽电容器标准变更的质量风险管理被引量：1
- 2017年
- 片式固体钽电容器新版国军标GJB2283A—2014《片式固体电解质钽固定电容器通用规范》相对于GJB2283—1995《有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范》,在增加宇航级质量等级(T级)及其相关要求的同时,还给出修改再流焊条件和浪涌电流条件的试验方法及要求,这对片式固体钽电容器研制过程的质量风险管理提出了新的要求与挑战。通过分析片式固体钽电容器标准变更的重点项目,研究制定质量风险检查表,为研制单位的质量风险管理提供指导和借鉴。
- 支越梁永红王之哲
- 关键词：质量风险管理宇航
- 电子元器件通用规范筛选要求综述被引量：6
- 2019年
- 电子元器件产品的质量直接影响着整机、装备的可靠性,目前我国元器件的生产方主要依据通用规范对元器件进行筛选。但是,只有部分类别的元器件的通用规范明确地给出了筛选程序,而对于通用规范中未明确筛选要求的元器件类别,各个研制单位在实际的生产筛选中存在筛选项目不一致等问题,不利于我国军用电子元器件质量工作的开展。因此,针对单片集成电路、半导体分立器件、混合集成电路、微波电路及组件、真空电子器件、通用元件、光电子器件、机电元件及组件、特种元件和电子元器件封装外壳等10大类电子元器件,按类别统计、分析、梳理了现有通用规范/总规范中的筛选要求,以期为后续标准的修订、完善提供一定的指导与借鉴。
- 王之哲陈煜海支越王小强陈思
- 关键词：电子元器件
- 声表器件质量管理与质量风险相关性分析
- 2017年
- 声表面波器件因体积小,质量小,信号处理简单,适于批量生产及可靠性高等优点,在雷达、通信、导航和电视等领域有着广阔的应用前景。目前,我国声表面波器件产品检验合格率相对偏低,质量不高,制约了整个行业的发展。该文通过分析电子元器件质量管理要素与质量风险间的相关性,提出了一种能够通过评价电子元器件质量管理水平预测其质量风险的方法,为声表器件研制企业改善产品质量风险提供了借鉴与参考。
- 支越梅强王之哲王小强刘焱
- 关键词：声表面波质量管理
- 电子产品可靠性评价与物理模型应用探讨被引量：5
- 2019年
- 该文以电子产品的故障为出发点,从集成电路-封装、集成电路-芯片、电路板(或线路板)、电子元件、系统和多系统的角度论述了不同任务环境下电子器件的故障机理特点。系统论述了故障模式、影响及危害性分析(FMECA)和故障模式、机理与影响分析(FMMEA)两种故障机理分析方法,同时结合低周疲劳、高周疲劳、裂纹萌生、反应论模型、芯片失效等失效机理对故障物理元模型进行分类讨论,对电子产品可靠性评价与物理模型应用进行了系统的探讨,为电子产品可靠性评价及失效物理评估模型的选取提供了依据。
- 支越孙大鹏王之哲罗宏伟
- 关键词：电子产品可靠性失效物理
- 基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究被引量：3
- 2019年
- 低频电噪声是表征电子器件质量和可靠性的敏感参数,通过测试低频噪声,可以快速、无损地实现光耦器件的可靠性评估。通过开展可靠性老化对光电耦合器低频噪声特性影响的试验研究,提出基于低频段宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法,并将可靠性筛选结果与点频噪声筛选方法结果进行对比分析。结果表明,与点频噪声参数等现有方法相比,宽频带噪声参数可以更灵敏和准确地表征器件可靠性,同时计算简便,基于宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法可以实现更为准确合理的可靠性分类筛选。
- 余永涛支越陈勇国罗宏伟王小强罗军
- 关键词：光电耦合器宽带噪声
- 质量风险分配在电子元器件选型中的应用被引量：2
- 2017年
- 电子元器件作为整机系统的基础和重要组成部分,其质量与可靠性直接制约整机系统的最终表现。提出了一种基于复杂度和重要度的质量风险层次化分配方法,通过把整机的质量风险指标合理分配至每个组成单元,为整机单位的电子元器件选型提供借鉴和支撑,有效保障整机系统的质量与可靠性。
- 支越梅强王之哲王小强
- 关键词：电子元器件选型复杂度重要度
