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唐明华

作品数:7 被引量:30H指数:3
供职机构:苏州大学分析测试中心更多>>
发文基金:国家自然科学基金江苏省高校自然科学研究项目江苏省自然科学基金更多>>
相关领域:理学文化科学一般工业技术电子电信更多>>

文献类型

  • 7篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇文化科学

主题

  • 5篇电镜
  • 5篇射电
  • 5篇透射电镜
  • 5篇透射电子显微...
  • 3篇三维重构技术
  • 2篇纳米
  • 1篇设备管理
  • 1篇手性
  • 1篇树脂
  • 1篇微观结构
  • 1篇唯一性
  • 1篇纳米管
  • 1篇纳米金
  • 1篇纳米金颗粒
  • 1篇金纳米粒子
  • 1篇晶体
  • 1篇酚醛
  • 1篇酚醛树脂
  • 1篇ZNO
  • 1篇ZNO晶体

机构

  • 7篇苏州大学

作者

  • 7篇唐明华
  • 7篇郭军
  • 6篇陈木子
  • 2篇朱兴
  • 1篇冯善娥
  • 1篇闫春辉
  • 1篇潘越

传媒

  • 3篇分析科学学报
  • 1篇分析仪器
  • 1篇电子显微学报
  • 1篇分析测试技术...
  • 1篇实验技术与管...

年份

  • 3篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2014
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
透射电子显微镜管理体系的探讨与实践被引量:14
2016年
透射电子显微镜是科研单位进行材料形貌、物质结构及微区成分分析的有力工具。根据透射电镜的仪器特点及现有的管理体制,电镜中心就设备使用管理的模式转换、全面开放机制的实施、电镜专业人才培训基地的建立、日常管理制度的规范等举措进行尝试和改革。
唐明华郭军张勇
关键词:透射电镜设备管理
透射电镜三维重构技术在螺旋纳米材料手性判断中的应用被引量:2
2016年
螺旋材料在手性催化、手性拆分以及手性光学材料等领域的潜在应用价值引起了研究者的广泛兴趣,手性的判断在研究应用中也显得尤为重要。单一的透射电镜和扫描电镜的二维图像不能作为准确判定螺旋材料手性的唯一依据。透射电镜三维重构技术可作为一种直观有效的方法确定螺旋材料的手性。本文通过透射电镜的三维重构技术对两种单手螺旋的3-氨基苯酚-甲醛树脂及单手螺旋碳质纳米管样品的手性做出了判断。
陈木子朱兴唐明华郭军冯善娥
关键词:透射电子显微镜手性酚醛树脂
FEI-TECNAI-G20型与HITACHI-HT7700型透射电子显微镜结构异同及维护被引量:2
2014年
通过电镜的硬件结构和性能两方面对FEI-TECNAI-G20型六硼化镧灯丝透射电子显微镜和日立HT7700型钨灯丝透射电子显微镜进行比较。硬件结构上FEI-TECNAI-G20和HT7700在光源,真空系统和成像系统上都有较大的区别,以至于在性能上都有着各自的优缺点;在仪器维护方面也有着异同。
陈木子郭军唐明华潘越
关键词:透射电子显微镜
透射电镜三维重构确定金纳米粒子的立体结构被引量:3
2017年
贵金属纳米颗粒具有局域表面等离激元这一特性使其具有丰富的光学性质,而这一特性受制于纳米颗粒所形成的立体几何形状,而透射电镜和扫描电镜的二维图像不能真切地观测和确定纳米颗粒所形成的立体几何结构。透射电镜三维重构技术可作为一种确定纳米颗粒立体结构的直观有效的方法。本文利用透射电镜的三维重构技术,选择合适的参数进行二维图像的采集、图像匹配对中及重构、立体模型的构建,从而通过构建的模型对两种金纳米颗粒样品的不同几何形状所产生的边界形态进行了确认和分析。
唐明华郭军陈木子
关键词:透射电子显微镜纳米金颗粒
ZnO衍射花样180°不唯一性的消除
2017年
晶体电子衍射花样涉及到界面、位错等缺陷的晶体学性质测定时,需要设法消除180°不唯一性这一问题.应用Tecnai G^2 F20场发射透射电镜精密的倾斜样品台使晶体做有系统的倾转,观察衍射花样的变化并加以分析,从而消除了ZnO粉末单晶花样的180°不唯一性.
唐明华陈木子朱兴郭军闫春辉
关键词:ZNO晶体
电子断层三维重构技术在材料微观结构分析中的应用被引量:2
2017年
电子断层三维重构技术是在透射电镜基础上发展起来的,用以解析材料三维结构的一种技术。本文以美国FEI公司Tecnai G^2 F20透射电镜三维重构系统——Xplore 3D系统为例,探讨了样品制备与取向的选择、样品漂移问题的成因与校正、降低缺失锲存在造成的模型失真及空间分辨率的提高等问题,从以上四个方面详细介绍电子断层三维重构技术的要点及在材料微观结构方面的应用经验。
唐明华郭军陈木子
关键词:透射电镜材料微观结构
透射电子显微镜三维重构技术及其在材料研究领域的应用被引量:8
2015年
透射电子显微镜(TEM)三维重构技术是一种基于TEM用以表征材料三维空间结构的分析测试技术。本文对TEM三维重构技术进行简要介绍,并以Tecnai G2F20场发射透射电镜三维重构为例介绍了实际操作过程中的经验及其在纳米、半导体等材料研究领域的应用。
唐明华郭军陈木子
关键词:透射电镜
共1页<1>
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