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孙晓凌

作品数：1 被引量：4H指数：1
供职机构：东北大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电路
  • 1篇随机存储器
  • 1篇静态随机存储...
  • 1篇SRAM
  • 1篇BIST
  • 1篇JTAG
  • 1篇测试电路
  • 1篇存储器
  • 1篇MARCH

机构

  • 1篇东北大学

作者

  • 1篇田勇
  • 1篇申华
  • 1篇孙晓凌

传媒

  • 1篇电子工程师

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现被引量：4
2008年
为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Altera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设计的测试电路可由标准的JTAG(联合测试工作组)接口进行控制。设计的测试电路可测试独立的SRAM模块或作为BIST(内建自测试)电路测试嵌入式SRAM模块。验证结果表明该SRAM测试系统是非常高效的。
田勇孙晓凌申华
关键词：MARCHJTAGBIST
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