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王宝升
作品数:
1
被引量:5
H指数:1
供职机构:
江南大学理学院光信息科学与技术系
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发文基金:
江苏省自然科学基金
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相关领域:
自动化与计算机技术
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合作作者
刘诚
江南大学理学院光信息科学与技术...
高淑梅
江南大学理学院光信息科学与技术...
朱健强
中国科学院上海光学精密机械研究...
王继成
江南大学理学院光信息科学与技术...
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中国科学院上...
作者
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王继成
1篇
朱健强
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高淑梅
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刘诚
1篇
王宝升
传媒
1篇
光学学报
年份
1篇
2013
共
1
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电荷耦合器件饱和效应对PIE成像质量的影响
被引量:5
2013年
在研究电荷耦合器件(CCD)饱和效应对PIE成像质量影响的基础上,提出了一种改进的重建算法。该方法可以从发生部分饱和的数据重建出准确的再现像。和现有的方法相比,此方法可以在保证分辨率不受影响的条件下,大幅度缩短数据采集时间,因此可显著降低对实验装置和样品稳定性的要求,对PIE方法的推广应用有重要的实际意义。
王宝升
高淑梅
王继成
朱健强
刘诚
关键词:
成像系统
相位恢复
显微成像
PIE
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