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王宝升

作品数:1 被引量:5H指数:1
供职机构:江南大学理学院光信息科学与技术系更多>>
发文基金:江苏省自然科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电荷耦合
  • 1篇电荷耦合器
  • 1篇电荷耦合器件
  • 1篇显微成像
  • 1篇相位
  • 1篇相位恢复
  • 1篇像质
  • 1篇成像系统
  • 1篇成像质量
  • 1篇PIE

机构

  • 1篇江南大学
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 1篇王继成
  • 1篇朱健强
  • 1篇高淑梅
  • 1篇刘诚
  • 1篇王宝升

传媒

  • 1篇光学学报

年份

  • 1篇2013
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
电荷耦合器件饱和效应对PIE成像质量的影响被引量:5
2013年
在研究电荷耦合器件(CCD)饱和效应对PIE成像质量影响的基础上,提出了一种改进的重建算法。该方法可以从发生部分饱和的数据重建出准确的再现像。和现有的方法相比,此方法可以在保证分辨率不受影响的条件下,大幅度缩短数据采集时间,因此可显著降低对实验装置和样品稳定性的要求,对PIE方法的推广应用有重要的实际意义。
王宝升高淑梅王继成朱健强刘诚
关键词:成像系统相位恢复显微成像PIE
共1页<1>
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