李冬冰
- 作品数：6 被引量：19H指数：3
- 供职机构：华北光电技术研究所更多>>
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- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 不同冷屏黑化工艺对红外探测器性能的影响被引量：3
- 2019年
- 结合红外探测器的光学性能设计,介绍了利用冷屏黑化层工艺来吸收和抑制杂散辐射的原理。基于同一种冷屏结构,对比了三种不同的表面黑化工艺,并测试分析了冷屏黑化层的表面吸收率等物理性能参数。通过红外探测器性能测试,分析了不同冷屏黑化工艺对红外探测器性能的实际影响。结果表明,在2~14μm波段,2#和3#冷屏黑化工艺的表面吸收率的一致性较好;在8~11μm波段,它们对红外探测器的杂散辐射具有良好的吸收与抑制效果。
- 付志凯魏威张磊李冬冰
- 关键词：红外探测器冷屏
- 多谱段线列红外探测器读出电路设计优化被引量：3
- 2017年
- 集成电路制造技术的发展使单芯片集成多谱段红外探测器成为可能,其中长线列红外探测器读出电路设计遇到的挑战之一就是寄生效应。针对一款多谱段长线列用读出电路在最小积分电容时行间输出电平差异显著,导致成像出现明暗条纹的现象进行了测试分析,得出复杂的电路版图寄生效应是主要原因。通过优化设计及流片验证,解决了寄生效应导致的成像明暗条纹问题。
- 王成刚刘泽巍袁媛李冬冰喻松林
- 关键词：读出电路寄生效应
- 超长线列红外探测器组件拼接选片方法研究被引量：1
- 2016年
- 为真实地反映探测器的性能参数,特别是非均匀性,针对红外焦平面长线列探测器的拼接选片,分析了像元倾角及立体角校正方法,分别给出了各自的数学模型,设计出拼接选片算法,适用于不同规格线列拼接探测器的拼接选片。
- 李冬冰郭亮王成刚杨微王亮宁玮
- 关键词：辐射通量非均匀性立体角冷屏
- TDI线列型读出电路建立时间问题研究被引量：1
- 2019年
- 大规模TDI线列型读出电路在测试中普遍发现建立时间不足,并且,测试结果和仿真结果存在较大差异。读出电路在设计仿真时已充分考虑了电路内部压降、线上阻容寄生的影响以及其他负载效应,但是,在测试中发现,实际电路建立时间是仿真建立时间的2倍,甚至更长。理论上,在应用频率不高的情况下,仿真结果和测试不会出现太大误差。本文针对这一现象,通过大量实验和仿真验证,最终确定线列电路输出级布局布线是造成该问题的关键点所在,通过优化版图提高TDI线列型读出电路的建立时间至1.38 V/30 ns。
- 王静李冬冰王成刚刘兴新李敬国
- 关键词：版图
- 线列TDI型红外探测器组件坏元替代方法被引量：2
- 2015年
- 国产线列TDI型红外探测器组件在红外系统中的应用越来越广泛,但由于加工材料和制造工艺等因素的影响,探测器组件存在坏元,将造成图像质量下降,图像灰度分布失真,进而影响红外系统的性能。本文介绍了576×6线列TDI型红外探测器组件的读出电路坏元替代方法,采用该方法可进行线列TDI型红外探测器组件通道内的坏元替代,提高图像质量。
- 郭亮李冬冰杨微石纲孙玉杰
- 关键词：TDI红外探测器
- “高分五号”卫星多谱段集成TDI线列红外探测器被引量：9
- 2018年
- 多谱段集成TDI线列红外探测器组件是"高分五号"卫星全谱段光谱成像仪的核心器件。为满足航天型号应用要求,华北光电技术研究所项目团队立足已有技术基础,创新性地开发了具有自主知识产权的"多谱段集成TDI线列红外探测器组件技术",引领了中国多谱段集成红外探测器技术的发展,谱段集成数量达到4个,分别实现了短中波4个谱段和长波4个谱段的集成,谱段从短波1.55μm覆盖至长波12.5μm,并根据探测组件在轨工作剖面,开展了地面8年寿命的试验考核。测试和试验结果表明:多谱段集成TDI线列红外探测器组件产品的性能、环境适应性和可靠性满足要求。
- 王成刚东海杰刘泽巍谢珩李冬冰喻松林
- 关键词：红外探测器
