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吴英伟

作品数:2 被引量:5H指数:1
供职机构:中国人民解放军军械工程学院更多>>
相关领域:兵器科学与技术理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇兵器科学与技...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 1篇电子部件
  • 1篇引信
  • 1篇数据融合
  • 1篇似然估计
  • 1篇威布尔分布
  • 1篇极大似然
  • 1篇极大似然估计

机构

  • 2篇中国人民解放...

作者

  • 2篇齐杏林
  • 2篇吴英伟
  • 1篇崔亮
  • 1篇赵铁山

传媒

  • 1篇探测与控制学...
  • 1篇装备环境工程

年份

  • 2篇2016
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
威布尔分布环境折合因子计算及其应用研究被引量:1
2016年
目的对不同环境条件试验下的数据进行融合。方法针对应用最为普遍的威布尔分布类型的环境折合因子进行研究,给出威布尔分布环境折合因子的定义,根据极大似然估计法对威布尔分布环境折合因子进行计算。结果得出了相关环境折合因子的计算结果,在此基础上给出了应用环境折合因子进行数据融合的方法和步骤。结论应用威布尔分布环境折合因子可以合理的对不同环境下试验数据进行融合,达到扩大试验样本的目的。
吴英伟齐杏林崔亮郑波
关键词:威布尔分布极大似然估计数据融合
引信典型电子部件长储性能加速退化试验方法被引量:4
2016年
针对目前引信电子部件储存性能退化或失效原因研究较少、储存失效原因尚不明确的问题,提出了引信典型电子部件长储性能加速退化试验方法。该方法通过对两个已经储存10年的引信典型电子部件样本开展加速退化试验,定位了易发生退化或失效的元器件。失效原因分析表明,随着时间推移,电子部件零点漂移退化趋势越发明显,而其他参数则相对稳定,电阻元件本身白噪声可能导致电阻元件性能退化。同时,长储导致键合丝断开可能会造成运算放大器性能退化,影响引信可靠性。确定了长储后的引信电子部件在进行检测时应重点关注电阻元件和运算放大器。
吴英伟齐杏林郑波赵铁山
关键词:电子部件
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