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张达

作品数:2 被引量:3H指数:1
供职机构:天津理工大学理学院材料物理研究所更多>>
发文基金:天津市高等学校科技发展基金计划项目更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇有机场效应晶...
  • 2篇晶体
  • 2篇晶体管
  • 2篇并五苯
  • 2篇场效应
  • 2篇场效应晶体管
  • 1篇短沟道
  • 1篇原子力显微镜
  • 1篇衰变
  • 1篇晶体管器件
  • 1篇沟道
  • 1篇OFET

机构

  • 2篇天津理工大学

作者

  • 2篇邓家春
  • 2篇张达
  • 1篇赵恺
  • 1篇曾宪顺
  • 1篇印寿根
  • 1篇姜春霞
  • 1篇闫齐齐
  • 1篇戚辉
  • 1篇刘爱华

传媒

  • 2篇光电子.激光

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
利用原子力显微镜制备短沟道有机场效应晶体管器件的研究被引量:2
2012年
利用原子力显微镜(AFM)探针直写技术制备了短沟道并五苯有机场效应晶体管(OFET),并研究了器件性能。在SiO2/n+-Si基底上,利用AFM探针刻蚀金沟道,通过优化工艺参数,获得的沟道长约1μm,器件的场效应迁移率为0.038cm2.V-1.S-1,开关比为103,输出电流最高可达200μA。结果表明,器件性能强烈依赖于沟道长度,随着沟道长度减小,输出电流显著增加。
张达赵恺邓家春
关键词:并五苯短沟道
有机场效应晶体管输出特性的衰变与恢复被引量:1
2011年
制作了以并五苯作为有源层的有机场效应晶体管(OFETs)。实验观察表明,在原位条件下,器件有很好的输出特性曲线;但在空气中放置3个月后,输出特性曲线明显衰退,并且关态电流增大;为恢复器件性能,在真空条件下,对器件进行加热处理。实验结果表明,经过热处理的晶体管输出特性极大改善。因此,真空热处理可以使衰退器件的输出特性得到恢复。
戚辉刘爱华姜春霞闫齐齐张达曾宪顺邓家春印寿根
关键词:并五苯衰变
共1页<1>
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