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靳钰珉

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:西北师范大学物理与电子工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金甘肃省自然科学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 2篇ZNO薄膜
  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇跃迁
  • 1篇退火
  • 1篇退火温度
  • 1篇结构和光学特...
  • 1篇缓冲层
  • 1篇溅射
  • 1篇光谱
  • 1篇光学
  • 1篇光学特性
  • 1篇光致
  • 1篇光致发光
  • 1篇发光
  • 1篇辐射跃迁
  • 1篇TI
  • 1篇磁控
  • 1篇磁控溅射

机构

  • 2篇西北师范大学

作者

  • 2篇刘静
  • 2篇马书懿
  • 2篇赵强
  • 2篇张小雷
  • 2篇李发明
  • 2篇马李刚
  • 2篇杨付超
  • 2篇靳钰珉
  • 1篇黄新丽

传媒

  • 1篇西北师范大学...
  • 1篇功能材料

年份

  • 2篇2012
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
Ti缓冲层对ZnO薄膜吸收特性和荧光光谱的影响
2012年
采用射频磁控溅射法在Si衬底和玻璃衬底上制备了ZnO/Ti薄膜,利用紫外-可见分光光度计和荧光分光光度计等技术表征了ZnO/Ti薄膜的光学特性,研究了Ti缓冲层的厚度对ZnO薄膜的影响。透射吸收光谱显示所有ZnO薄膜在可见光区域的平均透过率超过80%,当引入缓冲层后,薄膜的紫外吸收边先向长波方向移动,且随着缓冲层厚度的增加紫外吸收边向短波方向移动。薄膜的荧光光谱显示,所有样品出现了位于390nm的紫外发光峰,435和487nm的蓝光双峰以及525nm的绿光峰,并对各发光峰的来源进行了探讨。
张小雷马书懿杨付超黄新丽马李刚李发明赵强刘静靳钰珉
关键词:荧光光谱ZNO薄膜磁控溅射
退火温度对同质缓冲层ZnO薄膜微观结构和光学特性的影响被引量:2
2012年
采用射频磁控溅射法在300℃真空退火处理过的同质缓冲层上制备了不同退火温度下的ZnO薄膜.使用X射线衍射仪(XRD)和光致发光(PL)等表征技术,研究了ZnO薄膜的微观结构和发光特性.结果表明:在6min缓冲层上制备的ZnO薄膜有较好的结晶质量,并且在适当的退火温度下薄膜的结晶质量进一步提高.薄膜在可见光范围内的平均透过率均超过90%,光学带隙值随退火温度的增加由3.221eV减小为3.184eV.在光致发光谱(PL)中观测到了5个主要的发光峰位,分别是紫外光(384nm)、紫光(420nm)、蓝光(455nm和473nm)和绿光(530nm).对发光机制进行详细讨论认为,紫外光是自由激子复合形成的,紫光与晶界缺陷的辐射跃迁有关,蓝光与氧空位和间隙锌缺陷有关,绿光发射主要是电子从氧空位深施主能级向锌空位浅受主能级上的辐射跃迁.退火温度从400℃增加到600℃时,455nm处的蓝光峰蓝移至447nm处,发光强度随退火温度增加而增加.继续升高退火温度至700℃,530nm处的绿光峰强度降低,认为和锌空位的减少有关.
马书懿赵强靳钰珉马李刚张小雷刘静杨付超李发明
关键词:ZNO薄膜光致发光辐射跃迁
共1页<1>
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